O FIRMIE LABORATORIA APLIKACYJNE APLIKACJE INSTALACJA BIURO SERWISOWE KONTAKT SŁOWNIK WYDARZENIA Zakopane 2017 Wyprzedaż

    

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

KONTAKT

Adres do korespondencji:

 

MS SPEKTRUM

04-002 Warszawa

ul. Lubomira 4

 

Telefon: (+48) 22 810 01 28

Faks: (+48) 22 810 01 28

E-mail: biuro@msspektrum.pl

 

 

 

 

SYMPOZJA


powrót do listy sympozjów lista sympozjów

Ślesin 2002   20 maja 2002 - 22 maja 2002

Sposoby unikania błędów w analityce, czy 'walka z wiatrakami'?

 

 

Praktyczne korzyści zastosowania zmiennego pola magnetycznego w korekcji tła opartej na efekcie Zeemana w analizie próbek środowiskowych    

dr Andrew Gaal   
GBC Scientific Equipment   
Melbourne   

 

dostępna jest pełna wersja referatu

Metody korekcji tła w atomowej spektrometrii absorpcyjnej    

dr Tadeusz Glenc   
Zakład Produkcyjno-Usługowy
'TESTCHEM'   
Pszów   

 

 

Wprowadzenie próbek analitycznych do plazmy w emisyjnej spektrometrii atomowej    

prof. dr hab. Henryk Matusiewicz   
Wydział Chemii Analitycznej
Politechnika Poznańska   
Poznań   

 

 

Kryteria doboru metody wzorcowania w absorpcyjnej spektrometrii atomowej    

dr Ryszard Dobrowolski   
Wydział Chemii,
Uniwersytet Marii Curie-Skłodowskiej   
Lublin   

 

dostępna jest pełna wersja referatu

Źródła błędów i ich eliminacja w technice ICP-OES    

mgr Irena Jaroń   
Centralne Laboratorium Chemiczne,
Państwowy Instytut Geologiczny   
Warszawa   

 

dostępna jest pełna wersja referatu

Nowe kierunki rozwoju GBC Scientific Equipment w Polsce    

mgr inż. Mariusz Szkolmowski   
GBC   
Warszawa   

 

dostępna jest pełna wersja referatu

Zapewnienie jakości w laboratorium - moda czy konieczność?    

dr M. Trzcinka - Ochocka
mgr G. Raźniewska   
Instytut Medycyny Pracy
im prof. dra med. Jerzego Nofera   
Łódź   

 

 

Spektrometria ICP-TOF MS    

mgr inż. Elżbieta Skrzydlewska
dr hab. Maria Balcerzak   
Katedra Chemii Analitycznej,
Wydział Chemiczny
Centralny Ośrodek
Badawczo-Rozwojowy Opakowań   
Warszawa   

 

 

Najnowsze zastosowania spektrometru ICP-oaTOF-MS Optimass 8000    

dr Andrew Gaal   
GBC Scientific Equipment   
Melbourne   

 

dostępna jest pełna wersja referatu

Najczęstsze przyczyny powstawania błędów w technice HPLC    

dr inż. Piotr Guga   
Centrum Badań Molekularnych
i Makromolekularnych PAN,
Zakład Chemii Bioorganicznej   
Łódź   

 

dostępna jest pełna wersja referatu

Photron Pty. Ltd. - ceniony producent lamp spektralnych - nowy partner Selmaru    

mgr inż. Mariusz Szkolmowski   
GBC   
Warszawa   

 

 

Błędy systematyczne w analizie śladowej pierwiastków    

prof. dr hab. Jerzy Golimowski   
Uniwersytet Warszawski
Wydział Chemii   
Warszawa   

 

Oznaczanie substancji w ekstremalnie małych stężeniach w złożonych materiałach jest zadaniem bardzo trudnym, ale koniecznym w wielu dziedzinach nauki i techniki jako niezbędny element badań i kontroli. Oznaczanie tak małych ilości (często poniżej 10-3 µg/g ) substancji w próbkach środowiskowych jest konieczne ze względu na badanie dróg przenikania substancji toksycznych do organizmów żywych.
Do badania próbek rzeczywistych w większości przypadków stosowane są złożone procedury analityczne obejmujące etap przygotowania próbki polegający na usunięciu matrycy lub przeniesieniu analitu (często z jednoczesnym zatężeniem) do innej matrycy przed oznaczeniem jedną z instrumentalnych metod analitycznych. Procedury te obarczone są ryzykiem błędów systematycznych, których głównymi przyczynami są: wzbogacenie próbki w analit lub straty analitu. Powodem występowania błędów systematycznych jest zwykle niewłaściwe wyposażenie laboratoriów oraz niedostateczne kwalifikacje personelu. Prawdopodobieństwo występowania tych błędów wzrasta wraz ze zmniejszającym się stężeniem analitu w zależności od częstości występowania oznaczanego pierwiastka w środowisku, a więc i w laboratorium. Najtrudniej jest oznaczać ślady pierwiastków, które w skorupie ziemskiej występują w dużych ilościach (Fe, Ca, Na, Mg, Ti, Mn itp.). Laboratorium analityczne, które chciałoby podjąć się oznaczania zawartości śladowych jakiegoś pierwiastka powinno przed tym ocenić granicę jego oznaczalności w warunkach panujących w tym właśnie laboratorium. Parametr ten, stosunkowo łatwy do wyznaczenia ilustruje sumę błędów systematycznych całej procedury analitycznej. Przy oznaczaniu pierwiastków "wszechobecnych" w środowisku granica oznaczalności czasami wielokrotnie przewyższa możliwości aparatury pomiarowej.
Błędy dodatnie, a więc zawyżające wynik oznaczenia mogą być spowodowane zanieczyszczeniem wody, odczynników, naczyń laboratoryjnych, przewodów doprowadzających próbkę do analizatora, a także końcówek mikropipet. Te problemy są, na ogół, wszystkim dobrze znane; mniej znane są możliwości wprowadzenia zanieczyszczeń do badanych próbek wraz z pyłem powietrza, który zawiera oprócz bakterii, grzybów i roztoczy także znaczne zawartości metali ciężkich. Błędy ujemne spowodowane mogą być przez wiele czynników m.in. przez adsorpcję analitu na ściankach naczyń laboratoryjnych, lotność i in.
Chemia analityczna w zakresie oznaczania śladów rozwija się w pozornie nielogicznym kierunku, a mianowicie dąży do oznaczania coraz mniejszych ilości analitów w coraz mniejszych próbkach. Konieczne jest to ze względu na ograniczenie zużycia drogich odczynników i ze względu na ochronę środowiska przed nadmiernymi ilościami agresywnych związków, używanych w procedurach analitycznych i następnie odparowywanych do otoczenia. Mniejsze ilości odczynników to także mniejsze ilości wprowadzanych z nimi zanieczyszczeń. Zmniejszanie próbek stało się możliwe ze względu na uzyskiwanie próbek dobrze rozdrobnionych i homogennych. Rozdrabnianie może jednak powodować błędy wynikające ze ścierania się elementów młynów laboratoryjnych.
W analizie śladowej występuje wiele ograniczeń, których powinniśmy być świadomi, a w konsekwencji powściągliwi w podejmowaniu prac, których nie jesteśmy w stanie wykonać. Odmowa wykonania oznaczeń nie powinna kojarzyć się z uczuciem wstydu lecz uczciwości.

 

dostępna jest pełna wersja referatu

Czynniki wpływające na efektywność mineralizacji na mokro próbek organicznych    

dr Mariola Wasilewska   
Instytut Ciężkiej Syntezy Organicznej   
Kędzierzyn Koźle   

 

 

Alchemia miłości    

prof. dr hab. Jerzy Silberring   
Zespół Neurobiochemii
Wydział Chemii UJ   
Kraków   

 

 

Program do zarządzania pracą laboratorium/-ów LABORATORIUM 2000 - nowości    

mgr inż. Maria Ramsza   
Selmar   
Warszawa   

 

 

Mineralizacja mikrofalowa - podstawowe przyczyny i źródła błędów    

dr Edward Reszke   
PLAZMATRONIKA S.A.   
Wrocław   

 

 

Istotne błędy i sposoby ich minimalizowania w procedurach analitycznych próbek wody    

dr Danuta Barałkiewicz   
Zakład Analizy Wody i Gruntów
Wydział Chemii,
Uniwersytet im. A. Mickiewicza   
Poznań   

 

 

Sprawdzanie i wzorcowanie spektrofotometrów UV-Vis-NIR za pomocą materialnych wzorców miar    

mgr Jerzy Pietrzykowski   
Główny Urząd Miar   
Warszawa   

 

dostępna jest pełna wersja referatu

Źródła błędów w technice generowania wodorków    

dr Przemysław Niedzielski   
Uniwersytet im. Adama Mickiewicza,
Wydział Chemii,
Zakład Analizy Wody i Gruntów   
Poznań   

 

STATYSTYKA Ślesin 2002


Liczba wykładów: 19.
Dla 18 wykładów zamieszczono streszczenia.
Dla 8 wykładów zamieszczono pełne wersje referatów.
Łączny czas trwania wykładów: 12 godzin i 15 minut.

 

 
 
O firmie
Laboratoria aplikacyjne
Aplikacje
Instalacja
Biuro serwisowe
Kontakt
Słownik
Wydarzenia
Sympozja
zakopane 2017
wyprzedaż
Nota prawna
Polityka prywatności
Kontakt