O FIRMIE LABORATORIA APLIKACYJNE APLIKACJE INSTALACJA BIURO SERWISOWE KONTAKT SŁOWNIK WYDARZENIA Zakopane 2017 Wyprzedaż

    

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

KONTAKT

Adres do korespondencji:

 

MS SPEKTRUM

04-002 Warszawa

ul. Lubomira 4

 

Telefon: (+48) 22 810 01 28

Faks: (+48) 22 810 01 28

E-mail: biuro@msspektrum.pl

 

 

 

 

SYMPOZJA


powrót do listy sympozjów lista sympozjów

Ślesin 2013   20 maja 2013 - 22 maja 2013

Metrologia chemiczna niejedno ma imię

 

relacja zdjęciowa
       


 

 

Otwarcie Sympozjum    

 

 

 

Materialy odniesienia; rola, problemy i wyzwania    

prof. dr hab. inż. Jacek Namieśnik   
Politechnika Gdańska   
Gdańsk   

 

 

Wręczenie nagrody niespodzianki    

 

 

 

Strategia kalibrowania w metodach spektralnych    

prof. dr hab. Ewa Bulska   
Uniwersytet Warszawski   
Warszawa   

 

 

Spektrum nowych możliwości    

mgr inż. Mariusz Szkolmowski   
MS Spektrum   
Warszawa   

 

 

Nanomateriały w analitycznej spektrometrii atomowej, aspekty metrologiczne    

dr hab. Ryszard Dobrowolski, prof. UMCS   
UMCS   
Lublin   

 

 

Wręczenie Medalu za Zasługi dla Komitetu Chemii Analitycznej PAN    

 

 

 

Zmierzyć zapach; o analizie związków tworzących aromat żywności    

prof. dr hab. Henryk Jeleń   
Uniwersytet Przyrodniczy w Poznaniu   
Poznań   

 

 

Sierpik - rzeczywistość czy legenda dawnej sztuki farbierskiej     

prof. dr hab. Maciej Jarosz   
Politechnika Warszawska   
Warszawa   

 

 

Zalety i optymalizacja nebulizacji ultradźwiękowej w technice ICP-OES    

prof. Karel Novotný   
Masarikova Universita Brno   
Brno   

 

 

Kwalifikacja, weryfikacja czy walidacja?    

dr hab. Beata Godlewska-Żyłkiewicz, prof. UwB   
Uniwersytet w Białymstoku   
Białystok   

 

 

Fluorowane, chlorowane, bromowane i...    

dr hab. inż. Adam Grochowalski, prof. PK   
Politechnika Krakowska   
Kraków   

 

 

Badania biegłości w zakresie oznaczeń siarki w paliwach samochodowych: za, a nawet przeciw    

dr Zofia Kowalewska   
OBR   
Płock   

 

 

Walidacja procedur analitycznych oznaczania form specjacyjnych chromu i arsenu w wodzie techniką HPLC-ICP-MS    

prof. dr hab. Danuta Barałkiewicz   
UAM   
Poznań   

 

 

Wprowadzanie zawiesiny do plazmy argonowej ICP-OES w analizie materiałów trudno roztwarzalnych    

mgr Jarosław Ostrowski   
Instytut Nawozów Sztucznych   
Puławy   

 

 

Porównanie wybranych parametrów kontroli jakości metod EDXRF oraz ICP-MS w analizie próbek środowiskowych przygotowanych techniką stapiania    

dr Magdalena Jabłońska-Czapla   
Instytut Podstaw Inżynierii Środowiska PAN   
Zabrze   

 

Porównanie wybranych parametrów kontroli jakości metod EDXRF oraz ICP-MS w analizie próbek środowiskowych przygotowanych techniką stapiania.

Magdalena Jabłońska-Czapla, Sebastian Szopa

Instytut Podstaw Inżynierii Środowiska PAN
ul. M. Skłodowskiej-Curie 34, 41-819 Zabrze

Stapianie próbek stało się w ostatnich latach bardzo popularną metodą przygotowania próbek przeznaczonych do analizy metodą XRF. Metodę tę zaproponował w 1957 roku Claisse [1]. Stapianie próbek jest najpowszechniej używaną metodą niwelowania efektów wielkości ziarna oraz efektów matrycowych w analizie XRF. Technika stapiania próbek pozwala uzyskanie lepszych poziomów detekcji lekkich pierwiastków, stanowiących w dominującej części matryce badanych próbek geologicznych. Ponieważ większość informacji odczytywanych przez detektor podczas pomiaru pochodzi z powierzchni próbki lub jej najbliższej odległości, jednorodność próbek topionych (na poziomie atomowym) daje im niezaprzeczalną przewagę nad próbkami mielonymi, a następnie prasowanymi. Co więcej próbki topione, jeżeli są przechowywane w odpowiednich warunkach (eksykator), cechują się bardzo dużą stabilnością.

Stapianie próbek w perły coraz częściej jest alternatywą dla mineralizacji wspomaganej mikrofalowo, również w przypadku próbek przeznaczonych do analiz z wykorzystaniem techniki ASA, ICP-OES czy ICP-MS. Taki sposób postępowania pozwala na analizę pierwiastków lekkich, czyli matrycy techniką XRF, a następnie po roztworzeniu, pierwiastków śladowych techniką ICP-MS. Technika ICP-MS umożliwia oznaczanie pierwiastków na zdecydowanie niższym poziomie stężeń jak XRF. Z kolei XRF umożliwia analizę pierwiastków lekkich (B-Ca) w szerokim zakresie stężeń i w tym względzie techniki te są komplementarne.

Celem niniejszej pracy było porównanie wybranych parametrów kontroli jakości metod EDXRF oraz ICP-MS w analizie próbek środowiskowych przygotowanych techniką stapiania. Porównano takie parametry jak: odchylenie standardowe powtarzalności i odtwarzalności, względne odchylenie standardowe powtarzalności i odtwarzalności oraz w przypadku certyfikowanych materiałów odniesienia-odzysk.

Uzyskane wyniki badań dostarczyły istotnych danych w ramach wewnątrzlaboratoryjnej kontroli jakości.

[1] Claisse, F. Accurate X-Ray fluorescence analysis without internal standards, Norelco Reporter, 4, 3-7, (1957)

 

 

Warsztaty aparaturowe (rotacyjne zajęcia w podgrupach)    

 

 

      

Nowe rozwiązania firmy Knauer w dziedzinie chromatografii wysokosprawnej    

   
A.G.A. Analytical   
Warszawa   

 

      

Mineralizator mikrofalowy NOVAWAVE    

   
MS Spektrum   
Warszawa   

 

      

Szybciej, lepiej, łatwiej! Jak sprostać wyzwaniom stojącym przed współczesnym analitykiem?    

   
Sigma-Aldrich   
Poznań   

 

 

Atrakcje:
 Turniej strzelecki
  lub
 Zwiedzanie Bazyliki Licheńskiej    

 

 

 

ANALITYKA OD PODSTAW    

   
   
   

 

 

Pobieranie, transport i przechowywanie próbek - źródłem pierwszych błędów analityka    

dr hab. inż. Agata Kot-Wasik, prof. PG   
Politechnika Gdańska   
Gdańsk   

 

 

Stosowanie i interpretacja kart kontrolnych    

dr hab. inż. Piotr Konieczka, prof. PG   
Politechnika Gdańska   
Gdańsk   

 

 

Zastosowanie nosa elektronicznego w analityce - możliwości i ograniczenia    

prof. dr hab. Waldemar Wardencki   
Politechnika Gdańska   
Gdańsk   

 

 

Jak wykorzystać wyniki PT do szacowania niepewności metody?    

dr Waldemar Korol   
Krajowe Laboratorium Pasz   
Lublin   

 

 

Kierunki rozwoju spektrometrii plazmowej    

dr hab. Stanisław Walas   
Uniwersytet Jagielloński   
Kraków   

 

 

Jak sterować jakością badań laboratoryjnych i spełniać wymagania akredytacji    

dr Marek Dobecki   
Instytut Medycyny Pracy im. prof. dra J. Nofera   
Łódź   

 

 

Relacja zdjęciowa

 

Wykład prof. Ewy Bulskiej

Wykład Mariusza Szkolmowskiego

Wykład prof. Ryszarda Dobrowolskiego

prof. Henryk Jeleń, wykład

dr Aleksander Jankowski
laureat nagrody

Wykład dr Katarzyny Lech

.

Wykład prof. Adama Grochowalskiego

Wykład dr Zofii Kowalewskiej

Wykład prof. Danuty Barałkiewicz

Wykład Jarosława Ostrowskiego

Bartosz Poślednik

Warsztaty MS Spektrum

Warsztaty A.G.A. Analytical

Warsztaty Sigma-Aldrich

Wykład prof. Agaty Kot-Wasik

dr Waldemar Korol, wykład

prof. Waldemar Wardencki, wykład

wykład prof. Piotra Konieczki

dr Stanisław Walas, wykład

dr Marek Dobecki, wykład

STATYSTYKA Ślesin 2013

Liczba uczestników: 167.


Liczba wykładów: 20.
Dla 16 wykładów zamieszczono streszczenia.
Łączny czas trwania wykładów: 15 godzin i 25 minut.


Liczba warsztatów: 3.
Łączny czas trwania warsztatów: 3 godziny

 

 
 
O firmie
Laboratoria aplikacyjne
Aplikacje
Instalacja
Biuro serwisowe
Kontakt
Słownik
Wydarzenia
Sympozja
zakopane 2017
wyprzedaż
Nota prawna
Polityka prywatności
Kontakt