O FIRMIE LABORATORIA APLIKACYJNE INSTALACJA BIURO SERWISOWE KONTAKT SŁOWNIK WYDARZENIA SYMPOZJA Zakopane 2017 Wyprzedaż

    

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

KONTAKT

Adres do korespondencji:

 

MS SPEKTRUM

04-002 Warszawa

ul. Lubomira 4

 

Telefon: (+48) 22 810 01 28

Faks: (+48) 22 810 01 28

E-mail: biuro@msspektrum.pl

 

 

 

 

APLIKACJE - metodyki oznaczeń na przyrządach AAS / ICP / MP

poprzednia wersja: aplikacje

aby uzyskać szczegółowe informacje kliknij na symbol wybranego pierwiastka

  

  wybrano:
V - Wanad

Roztwory
wzorcowe
AAS
lampy HCL
AAS
płomień
AAS
kuweta grafit.
ICP-OES MP-AES

Klikając w kwadracikach zaznacz interesujące Cię parametry pierwiastków i naciśnij OK

     

Liczba Atomowa

AAS linia 1 [nm]

     

Nazwa

AAS linia 2 [nm]

     

Masa Atomowa

AAS oznaczanie 

 = C2H2-powietrze     

 = C2H2-N2O     

 = wodorki     

ICP linia [nm]

AAS płomień zakr. roboczy [ppm] (linia 1)

     

ICP gr. wyk. [ppb]

     
         

Oznaczanie wanadu - V

Liczba atomowa: 23
Masa atomowa: 50.9414
Temperatura topnienia: 1890 °C
Temperatura wrzenia: 3000 °C  

Wzorce, odczynniki, roztwory pomocnicze do oznaczania wanadu - V

Roztwory wzorcowe do spektrometrów AAS/ASA i MP Agilent

Wzorzec
wanadu (V)
do technik

Stężenie
ppm

Objętość
ml

Matryca
ml

nr katalogowy
Agilent

AAS MP

1000

100

5% HNO3    

5190-8323

AAS MP

1000

500

5% HNO3    

5190-8324

MP ICP

1000

100

5% HNO3    

5190-8551

MP ICP

1000

500

5% HNO3    

5190-8552

MP ICP

10000

100

5% HNO3    

5190-8228

MP ICP

10000

500

5% HNO3    

5190-8229

AAS

1000

50g

wzorzec olejowy    

5190-8793

AAS

5000

50g

wzorzec olejowy    

5190-8794

    wzorce do technik AAS i MP zestawienie wzorców do technik AAS i MP firmy Agilent

    wzorce V do techniki AAS wzorce V do techniki AAS firmy SPEX  

AAS/ASA - Lampy z katodą wnękową HCL - wanad

Lampy katodowe HCL do spektrometrów AAS/ASA Agilent

LAMPY STANDARDOWE

   

   Lampa: Agilent V

   

     nr katalogowy lampy kodowanej V:

  Agilent 5610106500

   

     nr katalogowy lampy niekodowanej V:

  Agilent 5610128500

   

     materiał okna lampy / gaz wypełniający:

  kwarc / Ne 

     prąd lampy nominalny / maksymalny

  20 / 20 mA  

   

   

V - lampy katodowe firmy PHOTRON  V - lampy katodowe HCL PHOTRON

Linie widmowe lamp katodowych V
Linie widmowe V

Intensywności względne wybranych linii lampy HCL (100 odpowiada linii o największej intensywności)
Czułości względne wybranych linii (100 odpowiada linii o największej/najlepszej czułości = najmniejsze stęż. charakter.)

Linia V

  Intensywność linii:

  40(40) 

318,5 nm

  Czułość linii:

  100(100) 


Linia V

  Intensywność linii:

  60(60) 

318,4 nm

  Czułość linii:

  50(50) 


Linia V

  Intensywność linii:

  50(50) 

306,6 nm

  Czułość linii:

  25(25) 


Linia V

  Intensywność linii:

  100(100) 

439,0 nm

  Czułość linii:

  12(12) 



 

AAS/ASA - Technika płomieniowa - oznaczanie wanadu

AAS/ASA - technika płomieniowa

 Prąd lampy: 

    20 mA

 Rodzaj płomienia: 

    acetylen-podtlenek azotu - redukujący

 

 

    

Linia
analityczna
[nm]

    

    

Szczelina
spektralna
[nm]

    

    

Zakres
roboczy
[ppm]

    

    

Stężenie
charakterystyczne
[ppm]

    

    

Granica
wykrywalności
[ppm]

    

318.5

0.2

1-200

0.5

0.02

318.4

0.2

2-240

1

306.6

0.5

4-600

2

439

0.5

10-1400

4

AAS / ASA - krzywa kalibracyjna dla wanadu / płomień

 Stężenie wzorca:  ppm (µg/ml)        Linia:   nm   

UWAGI:

Fluorki metali alkalicznych mają mniejszy wpływ niż na pozostałe wanadowce (Nb i Ta). 0.1 M NH4F zwiększa sygnał V.
Tego typu wpływy można usunąć dodając Al o stężeniu 2000 ppm.
Wzrost sygnału wywołuje również nadmiar Fe, Al, Ti oraz kwas fosforowy.
Linia 318.4 nm jest tripletem (318.3 nm/318.4 nm/318.5 nm).
Lampy V typu UltrAA nie są produkowane.
Lampy wielopierwiastkowe zawierają Mo, Cr, Mg, Li, Fe, Si, Ti.
Przy pomiarach na linii 439.0 nm korekcja deuterowa nie działa i powinna być wyłączona.
 

AAS/ASA - Technika płomieniowa / emisja - oznaczanie wanadu

 

    

 Linia emisyjna:

    437.9 nm

 Szczelina:

    0.2 nm

 Rodzaj płomienia:

    acetylen-podtlenek azotu

 

    

 

AAS/ASA - Technika bezpłomieniowa (kuweta grafitowa) - oznaczanie wanadu

technika bezpłomieniowa - kuweta grafitowa
 

 Linia analityczna / szczelina: 

    318.5 / 0.2 nm

 Temperatura rozkładu termicznego: 

    1000 °C

 Temperatura atomizacji: 

    2700 °C

 Masa charakterystyczna: 

    22 pg

 Stężenie charakterystyczne (20µl): 

    1.1 ppb

 Absorbancja maksymalna: 

    1.8 (ok. 450 ppb)

 

 

 Linie alternatywne: 

    318.4 / 0.2 nm

 

    306.6 / 0.5 nm

 

 

 UWAGI:

Przed rozpoczęciem pomiarów należy kilka razy przepalić kuwetę.

 

 Stężenie wzorca:  ppb (ng/ml)        Objętość:   µl   


Zeeman

 Linia analityczna / szczelina: 

    318.5 / 0.2 nm

 Temperatura rozkładu termicznego: 

    1000 °C 

 Temperatura atomizacji: 

    2700 °C

 Natężenie pola: 

    0.8 T

 Masa charakterystyczna: 

    22 pg

 MSR: 

    79 %

 

    


TYPOWY PROGRAM TEMPERATUROWY DLA KUWETY GRAFITOWEJ (D2 i Zeeman)

Krok

Temp.
[°C]

Czas
[s]

Przepływ
gazu [l/min]

Odczyt

1

85

5

3

-

2

95

40

3

-

3

120

10

3

-

4

1000

5

3

-

5

1000

1

3

-

6

1000

2

0

-

7

2700

1.3

0

tak

8

2700

2

0

tak

9

2750

2

3

-


 

Noty aplikacyjne powiązane z oznaczaniem V techniką GF AAS / Agilent

Tytuł

Pierwiastki
Składniki

Matryca

Technika
Przyrząd

link

rozmiar

The Determination of Vanadium in Heavy Industrial Fuel Oils Using the GTA-95

Oznaczanie wanadu (V) w olejach przemysłowych techniką GFAAS
(11-2010)

V 

oleje

AAS
kuweta


204 k

 

ICP-OES - oznaczanie wanadu

Linie ICP dla wanadu (poszczególne linie linkują do wykresów linii sąsiadujących).

λ 309.311

nm

SBR:

25

λ 290.882

nm

SBR:

10

λ 318.399

nm

SBR:

7

λ 318.539

nm

SBR:

5

λ 310.23

nm

SBR:

20

λ 292.464

nm

SBR:

10

λ 289.244

nm

SBR:

7

λ 318.341

nm

SBR:

4

λ 292.402

nm

SBR:

18

λ 327.612

nm

SBR:

9

λ 289.332

nm

SBR:

7

λ 306.637

nm

SBR:

3

λ 311.071

nm

SBR:

18

λ 312.528

nm

SBR:

8

λ 294.457

nm

SBR:

6

λ 437.923

nm

SBR:

16

λ 327.112

nm

SBR:

8

λ 326.77

nm

SBR:

6

λ 311.838

nm

SBR:

12

λ 438.998

nm

SBR:

7

λ 268.796

nm

SBR:

5

Wykres dla linii ICP znajdujących się w pobliżu linii wanadu 310.23 nm (okno = ± 0.54 nm).
okno: ± 0,2    0,54   2    nm


Granica wykrywalności dla linii 309.311 nm: 0.2 ppb

Noty aplikacyjne powiązane z oznaczaniem V techniką ICP-OES / Agilent

Tytuł

Pierwiastki
Składniki

Matryca

Technika
Przyrząd

link

rozmiar

Analysis of steel and its alloys using the GB/T 20125-2006 standard and an Agilent 5100 ICP-OES in dual view mode

Analizy stali i stali stopowych wg metodyki GB/T 20125-2006 za pomocą Agilent 5100 ICP-OES w tybie dual view
(11-2015)

Al, As, Co, Cr, Cu, Mn, Mo, Ni, P, S, Si, Ti, V 

stal

ICP
5100
VDV

391 k

Improved productivity for the determination of metals in oil samples using the Agilent 5110 Radial View (RV) ICP-OES with Advanced Valve System

Poprawa wydajności oznaczania metali w próbkach olejów techniką ICP-OES Agilent 5110 Radial View (RV) z sytemem zaworów AVS
(5-2016)

Ag, Al, B, Ba, Ca, Cd, Cr, Cu, Fe, K, Mg, Mn, Mo, Na, Ni, P, Pb, Si, Sn, Ti, V, Zn 

oleje silnikowe

ICP
5110
RV
AVS 6

468 k

Analysis of extractable and leachable metals in plastic materials of construction as per USP <661.1> acid extraction procedure using the Agilent 5110 VDV ICP-OES


(7-2016)

As, Cr, Cd, Pb, Al, Co, Hg, Ni, Ti, V, Zn, Zr, Ba, Ca, Mn, Sn 

opakowania z tworzyw sztucznych

ICP
5110
VDV
MSIS

1297 k

High throughput, low cost analysis of environmental samples according to US EPA 6010C using the Agilent 5100 SVDV ICP-OES

Wysokowydajne, o niskich kosztach, analizy próbek środowiskowych zgodnie z US EPA 6010C przy zastosowaniu Agilent 5100 ICP-OES SVDV
(7-2015)

Ag, Al, As, B, Ba, Be, Cd, Cd, Ce, Co, Cr, Cu, Fe, Hg, K, Li, Mg, Mn, Mo, Na, Ni, P, Pb, Sb, Se, Sn, Sr, Ti, Tl, V, Zn 

osady rzeczne

ICP
5100
SVDV
SVS 2+

386 k

Ultra-fast determination of trace elements in water, conforming to US EPA 200.7 using the Agilent 5100 Synchronous Vertical Dual View ICP-OES

Bardzo szybkie oznaczanie śladowych składników w wodzie zgodnie z US EPA 200.7 przy zastosowaniu Agilent 5100 SVDV ICP-OES
(7-2014)

Al, Sb, As, Ba, Be, B, Cd, Ca, Ce, Cr, Co, Cu, Fe, Pb, Li, Mg, Mn, Mo, Ni, P, K, Se, Si, Ag, Na, Sr, Tl, Sn, V, Zn 

woda

ICP
5100
SVDV
SVS 2+

1252 k

Elemental Profiling of Whiskey using the Agilent 5100/5110 ICP-OES and MPP Chemometrics Software

Profilowanie pierwiastkowe Whiskey przy zastosowaniu spektrometru Agilent 5100/5110 ICP-OES i oprogramowania MPP Chemometrics
(2-2017)

Ag, Al, As, B, Ba, Be, Ca, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, K, Mg, Mn, Mo, Na, Ni, Pb, Rb, Se, Si, Sr, Ti, V, Zn 

whiskey

ICP
5110
SVDV
MPP

827 k

Measuring elemental impurities in pharmaceutical materials

Pomiar zanieczyszczeń pierwiastkowych w materiałach farmaceutycznych
(5-2017)

Cd, Pb, As, Hg, Co, V, Ni, Tl, Au, Pd, Ir, Os, Rh, Ru, Se, Ag, Pt, Li, Sb, Ba, Mo, Cu, Sn, Cr 

farmaceutyki

ICP
5110


1467 k

Simplify testing of elemental impurities in pharmaceuticals with Agilent’s certified reference materials kit
ICH Q3D/USP <233> Elemental Impurities Kit

Uproszczenie analiz zanieczyszczeń pierwiastkowych w farmaceutykach przy zastosowaniu zestawu certyfikowanych materiałów odniesienia
ICH Q3D/USP <233> Elemental Impurities Kit
(5-2017)

Hg, As, Cd, Pb, Ni, Ag, Se, V, Tl, Co, Au, Ir, Os, Pd, Pt, Rh, Ru, Cr, Sn, Cu, Mo, Ba, Sb, Li, Te, Sc, Ge, In, Lu, Bi 

CRM
(farmaceutyki)

ICP
5110


908 k

USP <232>/<233> and ICH Q3D Elemental Impurities Analysis: Agilent’s ICP-OES solution

Analiza pierwiastkowa zanieczyszczeń wg USP <232>/<233> oraz ICH Q3D: Agilent ICP-OES
(5-2017)

Cd, Pb, As, Hg, Co, V, Ni, Tl, Au, Pd, Ir, Os, Rh, Ru, Se, Ag, Pt, Li, Sb, Ba, Mo, Cu, Sn, Cr 

farmaceutyki

ICP
5110


1285 k

 

MP (plazma mikrofalowa) - oznaczanie wanadu

Długość fali: 309.311 nm

Granica wykrywalności (ciekły azot): 2.9 ppb

Granica wykrywalności (generator N2): 3.7 ppb

Noty aplikacyjne powiązane z oznaczaniem V techniką MP-AES / Agilent

Tytuł

Pierwiastki
Składniki

Matryca

Technika
Przyrząd

link

rozmiar

Direct multi-elemental analysis of crude oils using the Agilent 4200/4210 Microwave Plasma-Atomic Emission Spectrometer

Bezpośrednia wielopierwiastkowa analiza ropy naftowej przy zastosowaniu spektrometru 4200/4210 MP-AES firmy Agilent
(9-2016)

Fe, V, Ni, Ca, K 

ropa naftowa

MP
4210


655 k

Direct determination of Al, B, Co, Cr, Mo, Ti, V and Zr in HF acid-digested nickel alloy using the Agilent 4210 Microwave Plasma-Atomic Emission Spectrometer

Bezpośrednie oznaczanie Al, B, Co, Cr, Mo, Ti, V i Zr w stopach niklu rozpuszczanych w HF przy zastosowaniu spektrometru 4210 MP-AES firmy Agilent
(9-2016)

Al, B, Co, Cr, Mo, Ti, V, Zr 

stopy niklu

MP
4210


631 k

Analysis of wear metals and contaminants in engine oils using the 4100 MP-AES

Oznaczanie metali i dodatków w olejach silnikowych przy zastosowaniu techniki MP-AES - Agilent 4100
(9-2011)

Fe, Mn, Cd, Cr, Si, Ni, Cu, Ag, Pb, V, Ti, Sn, Mo, Al, Na 

oleje silnikowe

MP
4100


140 k

Direct analysis of Cr, Ni, Pb and V in ethanol fuel by Microwave Plasma-Atomic Emission Spectrometry

Bezpośrednie oznaczanie Cr, Ni, Pb i V w paliwach etanolowych przy zastosowaniu techniki atomowej emisyjnej plazmy mikrofalowej (MP-AES)
(9-2012)

Cr, Ni, Pb, V 

paliwa na bazie etanolu

MP
4100


83 k

 
 
O firmie
Laboratoria aplikacyjne
Aplikacje
Instalacja
Biuro serwisowe
Kontakt
Słownik
Wydarzenia
Sympozja
zakopane 2017
wyprzedaż
Nota prawna
Polityka prywatności
Kontakt