O FIRMIE LABORATORIA APLIKACYJNE INSTALACJA BIURO SERWISOWE KONTAKT SŁOWNIK WYDARZENIA SYMPOZJA Zakopane 2017 Wyprzedaż

    

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

KONTAKT

Adres do korespondencji:

 

MS SPEKTRUM

04-002 Warszawa

ul. Lubomira 4

 

Telefon: (+48) 22 810 01 28

Faks: (+48) 22 810 01 28

E-mail: biuro@msspektrum.pl

 

 

 

 

APLIKACJE - metodyki oznaczeń na przyrządach AAS / ICP / MP

poprzednia wersja: aplikacje

aby uzyskać szczegółowe informacje kliknij na symbol wybranego pierwiastka

  

  wybrano:
Ni - Nikiel

Roztwory
wzorcowe
AAS
lampy HCL
AAS
płomień
AAS
kuweta grafit.
ICP-OES MP-AES

Klikając w kwadracikach zaznacz interesujące Cię parametry pierwiastków i naciśnij OK

     

Liczba Atomowa

AAS linia 1 [nm]

     

Nazwa

AAS linia 2 [nm]

     

Masa Atomowa

AAS oznaczanie 

 = C2H2-powietrze     

 = C2H2-N2O     

 = wodorki     

ICP linia [nm]

AAS płomień zakr. roboczy [ppm] (linia 1)

     

ICP gr. wyk. [ppb]

     
         

Oznaczanie niklu - Ni

Liczba atomowa: 28
Masa atomowa: 58.69
Temperatura topnienia: 1453 °C
Temperatura wrzenia: 2732 °C  

Wzorce, odczynniki, roztwory pomocnicze do oznaczania niklu - Ni

Roztwory wzorcowe do spektrometrów AAS/ASA i MP Agilent

Wzorzec
niklu (Ni)
do technik

Stężenie
ppm

Objętość
ml

Matryca
ml

nr katalogowy
Agilent

AAS MP

1000

100

5% HNO3    

5190-8298

AAS MP

1000

500

5% HNO3    

5190-8299

MP ICP

1000

100

5% HNO3    

5190-8491

MP ICP

1000

500

5% HNO3    

5190-8492

MP ICP

10000

100

5% HNO3    

5190-8422

MP ICP

10000

500

5% HNO3    

5190-8423

AAS

1000

50g

wzorzec olejowy    

5190-8769

AAS

5000

50g

wzorzec olejowy    

5190-8770

    wzorce do technik AAS i MP zestawienie wzorców do technik AAS i MP firmy Agilent

    wzorce Ni do techniki AAS wzorce Ni do techniki AAS firmy SPEX  

AAS/ASA - Lampy z katodą wnękową HCL - nikiel

Lampy katodowe HCL do spektrometrów AAS/ASA Agilent

LAMPY STANDARDOWE

   

   Lampa: Agilent Ni

   

     nr katalogowy lampy kodowanej Ni:

  Agilent 5610103700

   

     nr katalogowy lampy niekodowanej Ni:

  Agilent 5610125600

   

     materiał okna lampy / gaz wypełniający:

  kwarc / Ne 

     prąd lampy nominalny / maksymalny

  4 / 10 mA  

   

   

LAMPY UltrAA

   

   Lampa: Agilent Ni

   

     nr katalogowy lampy kodowanej Ni:

  Agilent 5610108500

   

     materiał okna lampy / gaz wypełniający:

  kwarc / Ne 

     prąd lampy nominalny / maksymalny

  7 / 10 mA  

   

   

LAMPY wielopierwiastkowe

   

   Lampa: Agilent Ag/Cr/Cu/Fe/Ni

   

     nr katalogowy lampy kodowanej Ag/Cr/Cu/Fe/Ni:

  Agilent 5610109500

   

     materiał okna lampy / gaz wypełniający:

  kwarc / Ne 

     prąd lampy nominalny / maksymalny

  10 / 12 mA  

   

   Lampa: Agilent Co/Cr/Cu/Fe/Mn/Ni

   

     nr katalogowy lampy kodowanej Co/Cr/Cu/Fe/Mn/Ni:

  Agilent 5610107600

   

     nr katalogowy lampy niekodowanej Co/Cr/Cu/Fe/Mn/Ni:

  Agilent 5610129200

   

     materiał okna lampy / gaz wypełniający:

  kwarc / Ne 

     prąd lampy nominalny / maksymalny

  10 / 15 mA  

   

   

LAMPY wielopierwiastkowe UltrAA

   

   Lampa: Agilent Ag/Cr/Cu/Fe/Ni

   

     nr katalogowy lampy kodowanej Ag/Cr/Cu/Fe/Ni:

  Agilent 5610134900

   

     materiał okna lampy / gaz wypełniający:

  kwarc / Ne 

     prąd lampy nominalny / maksymalny

  10 / 15 mA  

   

   Lampa: Agilent Co/Cr/Cu/Fe/Mn/Ni

   

     nr katalogowy lampy kodowanej Co/Cr/Cu/Fe/Mn/Ni:

  Agilent 5610134500

   

     materiał okna lampy / gaz wypełniający:

  kwarc / Ne 

     prąd lampy nominalny / maksymalny

  10 / 12 mA  

   

   Lampa: Agilent Ni/Se

   

     nr katalogowy lampy niekodowanej Ni/Se:

  Agilent 5610135400

   

     materiał okna lampy / gaz wypełniający:

  kwarc / Ne 

     prąd lampy nominalny / maksymalny

  10 / 12 mA  

   

Ni - lampy katodowe firmy PHOTRON  Ni - lampy katodowe HCL PHOTRON

Linie widmowe lamp katodowych Ni
Linie widmowe Ni

Intensywności względne wybranych linii lampy HCL (100 odpowiada linii o największej intensywności)
Czułości względne wybranych linii (100 odpowiada linii o największej/najlepszej czułości = najmniejsze stęż. charakter.)

Linia Ni

  Intensywność linii:

  5(5) 

232,0 nm

  Czułość linii:

  100(100) 


Linia Ni

  Intensywność linii:

  100(100) 

352,5 nm

  Czułość linii:

  20(20) 


Linia Ni

  Intensywność linii:

  30(30) 

351,5 nm

  Czułość linii:

  10(10) 


Linia Ni

  Intensywność linii:

  10(10) 

362,5 nm

  Czułość linii:

  0(0) 



 

AAS/ASA - Technika płomieniowa - oznaczanie niklu

AAS/ASA - technika płomieniowa

 Prąd lampy: 

    4 mA

 Prąd lampy UltrAA: 

    7 mA

 Rodzaj płomienia: 

    acetylen-powietrze - utleniający

 

 

    

Linia
analityczna
[nm]

    

    

Szczelina
spektralna
[nm]

    

    

Zakres
roboczy
[ppm]

    

    

Stężenie
charakterystyczne
[ppm]

    

    

Granica
wykrywalności
[ppm]

    

232

0.2

0.1-20

0.028

0.0058

341.5

0.2

1-100

352.4

0.5

1-100

0.14

351.5

0.5

3-180

0.28

362.5

0.5

100-8000

14

AAS / ASA - krzywa kalibracyjna dla niklu / płomień

 Stężenie wzorca:  ppm (µg/ml)        Linia:   nm   

UWAGI:

Zalecane jest stosowanie linii 352,4 nm (zamiast 232,0 nm). Linia ta daje mniej zakrzywioną krzywą kalibracyjną i jest mniej "wrażliwa" na absorpcję niespecyficzną.
W obecności matrycy pomiary z włączoną korekcją tła (D2) są koniecznością (dla linii 232,0 nm).
Można stosować płomień acetylen-podtlenek azotu ale czułość w tym płomieniu jest znacznie (12 x) gorsza.

W obecności Fe, Co i Cr kwas solny i nadchlorowy obniżają absorbancję Cr (o ok. 5%). W bardziej utleniającym płomieniu efekt ten jest mniejszy.
Przy zastosowaniu lamp wielopierwiastkowych zawierających żelazo oraz przy obecności Fe w próbach należy stosować alternatywne linie Ni (np. 352,4 nm lub 341,5 nm).
Dostępna jest lampa UltrAA oraz lampy wielopierwiastkowe (w tym wielopierwiastkowe UltrAA). Większość lamp wielopierwiastkowych zawiera Fe.

 

Noty aplikacyjne powiązane z oznaczaniem Ni techniką płomieniową AAS / Agilent

Tytuł

Pierwiastki
Składniki

Matryca

Technika
Przyrząd

link

rozmiar

The Determination of Cd, Cr, Cu, Ni and Pb in a Concentrated CaCl2/NaCl Solution by AAS

Oznaczanie Cd, Cr, Cu, Ni i Pb w stężonych roztworach CaCl2/NaCl
(11-2010)

Cd, Cr, Cu, Ni, Pb 

CaCl2/NaCl

AAS
płomień
kuweta


76 k

AAS/ASA - Technika płomieniowa / emisja - oznaczanie niklu

 

    

 Linia emisyjna:

    341.5 nm

 Szczelina:

    0.2 nm

 Rodzaj płomienia:

    acetylen-podtlenek azotu

 

    

 

AAS/ASA - Technika bezpłomieniowa (kuweta grafitowa) - oznaczanie niklu

technika bezpłomieniowa - kuweta grafitowa
 

 Linia analityczna / szczelina: 

    232 / 0.2 nm

 Temperatura rozkładu termicznego: 

    800 °C

 Temperatura atomizacji: 

    2400 °C

 Masa charakterystyczna: 

    4.8 pg

 Stężenie charakterystyczne (20µl): 

    0.24 ppb

 Absorbancja maksymalna: 

    1 (ok. 54.5 ppb)

 

 

 Linie alternatywne: 

    352.5 / 0.5 nm

 

    351.5 / 0.5 nm

 

 

 UWAGI:

 

 Stężenie wzorca:  ppb (ng/ml)        Objętość:   µl   


Zeeman

 Linia analityczna / szczelina: 

    232 / 0.2 nm

 Temperatura rozkładu termicznego: 

    800 °C (modyf. Pd)

 Temperatura atomizacji: 

    2400 °C

 Natężenie pola: 

    0.85 T

 Masa charakterystyczna: 

    4.8 pg

 MSR: 

    98 %

 

    


 Modyfikator matrycy: Pd + kw. askorbinowy - 1000 ppm azotan palladu + 1% kwas askorbinowy, w sumie 5µl

 alternatywnie:

   Modyfikator matrycy (2): PdCl3 + hydroksyloamina - 1000 ppm chlorek palladu + 0.4% hydroksyloamina, w sumie 5µl
 


TYPOWY PROGRAM TEMPERATUROWY DLA KUWETY GRAFITOWEJ (D2 i Zeeman)

Krok

Temp.
[°C]

Czas
[s]

Przepływ
gazu [l/min]

Odczyt

1

85

5

3

-

2

95

40

3

-

3

120

10

3

-

4

800

5

3

-

5

800

1

3

-

6

800

2

0

-

7

2400

1.1

0

tak

8

2400

2

0

tak

9

2500

2

3

-


 

Noty aplikacyjne powiązane z oznaczaniem Ni techniką GF AAS / Agilent

Tytuł

Pierwiastki
Składniki

Matryca

Technika
Przyrząd

link

rozmiar

The Determination of Cd, Cr, Cu, Ni and Pb in a Concentrated CaCl2/NaCl Solution by AAS

Oznaczanie Cd, Cr, Cu, Ni i Pb w stężonych roztworach CaCl2/NaCl
(11-2010)

Cd, Cr, Cu, Ni, Pb 

CaCl2/NaCl

AAS
płomień
kuweta


76 k

Sequential Determination of Cd, Cu, Pb, Co and Ni in Marine Invertebrates by Zeeman Graphite Furnace Atomic Absorption Spectroscopy

Sekwencyjne oznaczanie kadmu (Cd), miedzi (Cu), ołowiu (Pb), kobaltu (Co) i niklu (Ni) w bezkręgowcach morskich techniką GFAAS/Zeeman
(11-2010)

Cd, Cu, Pb, Co, Ni 

bezkręgowce morskie

AAS
kuweta (Zeeman)


369 k

 

ICP-OES - oznaczanie niklu

Linie ICP dla niklu (poszczególne linie linkują do wykresów linii sąsiadujących).

λ 221.647

nm

SBR:

6

λ 232.003

nm

SBR:

2.5

λ 300.249

nm

SBR:

1.8

λ 346.165

nm

SBR:

1.5

λ 231.604

nm

SBR:

6

λ 352.454

nm

SBR:

2.5

λ 305.082

nm

SBR:

1.8

λ 351.505

nm

SBR:

1.5

λ 341.476

nm

SBR:

3

λ 361.939

nm

SBR:

2

λ 230.3

nm

SBR:

1.5

λ 216.556

nm

SBR:

2.5

λ 227.021

nm

SBR:

2

λ 239.452

nm

SBR:

1.5

Wykres dla linii ICP znajdujących się w pobliżu linii niklu 346.165 nm (okno = ± 0.54 nm).
okno: ± 0,2    0,54   2    nm


Granica wykrywalności dla linii 221.647 nm: 0.5 ppb

Noty aplikacyjne powiązane z oznaczaniem Ni techniką ICP-OES / Agilent

Tytuł

Pierwiastki
Składniki

Matryca

Technika
Przyrząd

link

rozmiar

Analysis of steel and its alloys using the GB/T 20125-2006 standard and an Agilent 5100 ICP-OES in dual view mode

Analizy stali i stali stopowych wg metodyki GB/T 20125-2006 za pomocą Agilent 5100 ICP-OES w tybie dual view
(11-2015)

Al, As, Co, Cr, Cu, Mn, Mo, Ni, P, S, Si, Ti, V 

stal

ICP
5100
VDV

391 k

Improved productivity for the determination of metals in oil samples using the Agilent 5110 Radial View (RV) ICP-OES with Advanced Valve System

Poprawa wydajności oznaczania metali w próbkach olejów techniką ICP-OES Agilent 5110 Radial View (RV) z sytemem zaworów AVS
(5-2016)

Ag, Al, B, Ba, Ca, Cd, Cr, Cu, Fe, K, Mg, Mn, Mo, Na, Ni, P, Pb, Si, Sn, Ti, V, Zn 

oleje silnikowe

ICP
5110
RV
AVS 6

468 k

Ultra-high speed analysis of soil extracts using an Advanced Valve System installed on an Agilent 5110 SVDV ICP-OES

Bardzo szybkie analizy ekstraktów glebowych przy zastosowaniu AVS (Advanced Valve System) w technice ICP-OES Agilent 5110 SVDV
(5-2016)

Cu, Fe, Mn, Zn, Co, Ni, Cd, Pb 

ekstrakty glebowe

ICP
5110
SVDV
AVS 6

834 k

Determination of elemental nutrients in DTPA extracted soil using the Agilent 5110 SVDV ICP-OES

Oznaczanie składników odżywczych w ekstraktach glebowych za pomocą DTPA przy zastosowaniu techniki ICP-OES Agilent 5110 SVDV
(5-2016)

Cu, Fe, Mn, Zn, Co, Ni, Cd, Pb 

ekstrakty glebowe / DPTA

ICP
5110
SVDV
AVS 6

450 k

Analysis of extractable and leachable metals in plastic materials of construction as per USP <661.1> acid extraction procedure using the Agilent 5110 VDV ICP-OES


(7-2016)

As, Cr, Cd, Pb, Al, Co, Hg, Ni, Ti, V, Zn, Zr, Ba, Ca, Mn, Sn 

opakowania z tworzyw sztucznych

ICP
5110
VDV
MSIS

1297 k

High throughput, low cost analysis of environmental samples according to US EPA 6010C using the Agilent 5100 SVDV ICP-OES

Wysokowydajne, o niskich kosztach, analizy próbek środowiskowych zgodnie z US EPA 6010C przy zastosowaniu Agilent 5100 ICP-OES SVDV
(7-2015)

Ag, Al, As, B, Ba, Be, Cd, Cd, Ce, Co, Cr, Cu, Fe, Hg, K, Li, Mg, Mn, Mo, Na, Ni, P, Pb, Sb, Se, Sn, Sr, Ti, Tl, V, Zn 

osady rzeczne

ICP
5100
SVDV
SVS 2+

386 k

Ultra-fast determination of trace elements in water, conforming to US EPA 200.7 using the Agilent 5100 Synchronous Vertical Dual View ICP-OES

Bardzo szybkie oznaczanie śladowych składników w wodzie zgodnie z US EPA 200.7 przy zastosowaniu Agilent 5100 SVDV ICP-OES
(7-2014)

Al, Sb, As, Ba, Be, B, Cd, Ca, Ce, Cr, Co, Cu, Fe, Pb, Li, Mg, Mn, Mo, Ni, P, K, Se, Si, Ag, Na, Sr, Tl, Sn, V, Zn 

woda

ICP
5100
SVDV
SVS 2+

1252 k

Simultaneous determination of hydride and non-hydride elements in fish samples using the Agilent 5110 SVDV ICP-OES with MSIS accessory

Jednoczesne oznaczanie pierwiastków wodorkowych i nie tworzących wodorków w próbkach ryb przy zastosowaniu spektrometeru Agilent 5110 SVDV ICP-OES z przystawką MSIS
(3-2017)

Cd, Cr, Cu, Ni, Fe, Pb, Zn, As, Se, Hg, Sn 

ryby

ICP
5110
SVDV
MSIS

662 k

Elemental Profiling of Whiskey using the Agilent 5100/5110 ICP-OES and MPP Chemometrics Software

Profilowanie pierwiastkowe Whiskey przy zastosowaniu spektrometru Agilent 5100/5110 ICP-OES i oprogramowania MPP Chemometrics
(2-2017)

Ag, Al, As, B, Ba, Be, Ca, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, K, Mg, Mn, Mo, Na, Ni, Pb, Rb, Se, Si, Sr, Ti, V, Zn 

whiskey

ICP
5110
SVDV
MPP

827 k

Measuring elemental impurities in pharmaceutical materials

Pomiar zanieczyszczeń pierwiastkowych w materiałach farmaceutycznych
(5-2017)

Cd, Pb, As, Hg, Co, V, Ni, Tl, Au, Pd, Ir, Os, Rh, Ru, Se, Ag, Pt, Li, Sb, Ba, Mo, Cu, Sn, Cr 

farmaceutyki

ICP
5110


1467 k

Simplify testing of elemental impurities in pharmaceuticals with Agilent’s certified reference materials kit
ICH Q3D/USP <233> Elemental Impurities Kit

Uproszczenie analiz zanieczyszczeń pierwiastkowych w farmaceutykach przy zastosowaniu zestawu certyfikowanych materiałów odniesienia
ICH Q3D/USP <233> Elemental Impurities Kit
(5-2017)

Hg, As, Cd, Pb, Ni, Ag, Se, V, Tl, Co, Au, Ir, Os, Pd, Pt, Rh, Ru, Cr, Sn, Cu, Mo, Ba, Sb, Li, Te, Sc, Ge, In, Lu, Bi 

CRM
(farmaceutyki)

ICP
5110


908 k

USP <232>/<233> and ICH Q3D Elemental Impurities Analysis: Agilent’s ICP-OES solution

Analiza pierwiastkowa zanieczyszczeń wg USP <232>/<233> oraz ICH Q3D: Agilent ICP-OES
(5-2017)

Cd, Pb, As, Hg, Co, V, Ni, Tl, Au, Pd, Ir, Os, Rh, Ru, Se, Ag, Pt, Li, Sb, Ba, Mo, Cu, Sn, Cr 

farmaceutyki

ICP
5110


1285 k

 

MP (plazma mikrofalowa) - oznaczanie niklu

Długość fali: 352.454 nm

Granica wykrywalności (ciekły azot): 1.1 ppb

Granica wykrywalności (generator N2): 0.9 ppb

Noty aplikacyjne powiązane z oznaczaniem Ni techniką MP-AES / Agilent

Tytuł

Pierwiastki
Składniki

Matryca

Technika
Przyrząd

link

rozmiar

Determination of major and minor elements in geological samples using the 4200 Microwave Plasma-Atomic Emission Spectrometer (MP-AES)

Oznaczanie pierwiastków w próbkach geologicznych za pomocą spektrometru 4200 MP-AES
(1-2014)

Ag, Cu, Ni, Pb, Zn 

próbki geologiczne

MP
4200


1720 k

Cost-Effective Analysis of Major, Minor, and Trace Elements in Foodstuffs Using the 4100 MP-AES


(6-2013)

Al, Ba, Ca, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, K, Pb, Mg, Mn, Mo, Na, Ni, Sr, Zn, P 

żywność

MP
4100


1362 k

Direct multi-elemental analysis of crude oils using the Agilent 4200/4210 Microwave Plasma-Atomic Emission Spectrometer

Bezpośrednia wielopierwiastkowa analiza ropy naftowej przy zastosowaniu spektrometru 4200/4210 MP-AES firmy Agilent
(9-2016)

Fe, V, Ni, Ca, K 

ropa naftowa

MP
4210


655 k

Determination of metals in soils using the 4100 MP-AES

Oznaczanie metali w glebach przy zastosowaniu techniki MP-AES - Agilent 4100
(9-2016)

Al, As, Cr, Cu, Pb, Ni, Zn, Fe, Mn 

gleby

MP
4100


235 k

Determination of metals in industrial wastewaters by microwave plasmaatomic emission spectrometry

Oznaczanie metali w ściekach przemysłowych przy zastosowaniu techniki atomowej emisyjnej plazmy mikrofalowej
(9-2016)

Al, B, Co, Cu, Fe, Mg, Mn, Ni, Zn 

ścieki przemysłowe

MP
4100


293 k

Analysis of Chinese herbal medicines by microwave plasma-atomic emission spectrometry (MP-AES)

Analiza chińskich ziół leczniczych przy zastosowaniu techniki atomowej emisyjnej plazmy mikrofalowej (MP-AES)
(3-2012)

Al, Ba, Ca, Cr, Cu, Fe, K, Mg, Mn, Na, Ni, P, Pb, Zn 

zioła lecznicze

MP
4100


168 k

Determination of major and minor elements in geological samples using the 4100 MP-AES

Oznaczanie głównych i śladowych pierwiastków w próbkach geologicznych za pomocą spektrometru 4100 MP-AES
(8-2011)

Ag, Cu, Mo, Ni, Pb, Zn 

próbki geologiczne,
metalurgia

MP
4100


129 k

Analysis of wear metals and contaminants in engine oils using the 4100 MP-AES

Oznaczanie metali i dodatków w olejach silnikowych przy zastosowaniu techniki MP-AES - Agilent 4100
(9-2011)

Fe, Mn, Cd, Cr, Si, Ni, Cu, Ag, Pb, V, Ti, Sn, Mo, Al, Na 

oleje silnikowe

MP
4100


140 k

Direct analysis of Cr, Ni, Pb and V in ethanol fuel by Microwave Plasma-Atomic Emission Spectrometry

Bezpośrednie oznaczanie Cr, Ni, Pb i V w paliwach etanolowych przy zastosowaniu techniki atomowej emisyjnej plazmy mikrofalowej (MP-AES)
(9-2012)

Cr, Ni, Pb, V 

paliwa na bazie etanolu

MP
4100


83 k

 
 
O firmie
Laboratoria aplikacyjne
Aplikacje
Instalacja
Biuro serwisowe
Kontakt
Słownik
Wydarzenia
Sympozja
zakopane 2017
wyprzedaż
Nota prawna
Polityka prywatności
Kontakt