APLIKACJE - metodyki oznaczeń na przyrządach AAS / ICP / MP poprzednia wersja: aplikacje
aby uzyskać szczegółowe informacje kliknij na symbol wybranego pierwiastka |
|
Oznaczanie miedzi - Cu
|
Liczba atomowa: 29
Masa atomowa: 63.546
Temperatura topnienia: 1083 °C
Temperatura wrzenia: 2595 °C
|
Wzorce, odczynniki, roztwory pomocnicze do oznaczania miedzi - Cu
|

Wzorzec miedzi (Cu) do technik |
Stężenie ppm |
Objętość ml |
Matryca ml |
nr katalogowy Agilent |
AAS MP |
1000 |
100 |
5% HNO3 |
5190-8279 |

|
AAS MP |
1000 |
500 |
5% HNO3 |
5190-8280 |

|
MP ICP |
1000 |
100 |
5% HNO3 |
5190-8348 |

|
MP ICP |
1000 |
500 |
5% HNO3 |
5190-8349 |

|
MP ICP |
10000 |
100 |
5% HNO3 |
5190-8378 |

|
MP ICP |
10000 |
500 |
5% HNO3 |
5190-8379 |

|
AAS |
1000 |
50g |
wzorzec olejowy |
5190-8752 |

|
AAS |
5000 |
50g |
wzorzec olejowy |
5190-8753 |

|
zestawienie wzorców do technik AAS i MP firmy Agilent
wzorce Cu do techniki AAS firmy SPEX
|
AAS/ASA - Lampy z katodą wnękową HCL - miedź
|

LAMPY STANDARDOWE | |
Lampa: Agilent Cu | |
nr katalogowy lampy kodowanej Cu: | Agilent 5610101400 | |
nr katalogowy lampy niekodowanej Cu: | Agilent 5610123300 | |
materiał okna lampy / gaz wypełniający: | kwarc / Ne |
prąd lampy nominalny / maksymalny | 4 / 10 mA |
| |
| |
LAMPY UltrAA | |
Lampa: Agilent Cu | |
nr katalogowy lampy kodowanej Cu: | Agilent 5610109100 | |
materiał okna lampy / gaz wypełniający: | kwarc / Ne |
prąd lampy nominalny / maksymalny | 4 / 10 mA |
| |
| |
LAMPY wielopierwiastkowe | |
Lampa: Agilent Ag/Cr/Cu/Fe/Ni | |
nr katalogowy lampy kodowanej Ag/Cr/Cu/Fe/Ni: | Agilent 5610109500 | |
materiał okna lampy / gaz wypełniający: | kwarc / Ne |
prąd lampy nominalny / maksymalny | 10 / 12 mA |
| |
Lampa: Agilent Co/Cr/Cu/Fe/Mn/Ni | |
nr katalogowy lampy kodowanej Co/Cr/Cu/Fe/Mn/Ni: | Agilent 5610107600 | |
nr katalogowy lampy niekodowanej Co/Cr/Cu/Fe/Mn/Ni: | Agilent 5610129200 | |
materiał okna lampy / gaz wypełniający: | kwarc / Ne |
prąd lampy nominalny / maksymalny | 10 / 15 mA |
| |
Lampa: Agilent Cu/Fe/Mn/Zn | |
nr katalogowy lampy kodowanej Cu/Fe/Mn/Zn: | Agilent 5610109600 | |
materiał okna lampy / gaz wypełniający: | kwarc / Ne |
prąd lampy nominalny / maksymalny | 10 / 12 mA |
| |
Lampa: Agilent Cu/Fe/Si/Zn | |
nr katalogowy lampy kodowanej Cu/Fe/Si/Zn: | Agilent 5610109700 | |
materiał okna lampy / gaz wypełniający: | kwarc / Ne |
prąd lampy nominalny / maksymalny | 10 / 12 mA |
| |
Lampa: Agilent Cu/Zn | |
nr katalogowy lampy kodowanej Cu/Zn: | Agilent 5610119200 | |
nr katalogowy lampy niekodowanej Cu/Zn: | Agilent 5610129300 | |
materiał okna lampy / gaz wypełniający: | kwarc / Ne |
prąd lampy nominalny / maksymalny | 7 / 10 mA |
| |
| |
LAMPY wielopierwiastkowe UltrAA | |
Lampa: Agilent Ag/Cr/Cu/Fe/Ni | |
nr katalogowy lampy kodowanej Ag/Cr/Cu/Fe/Ni: | Agilent 5610134900 | |
materiał okna lampy / gaz wypełniający: | kwarc / Ne |
prąd lampy nominalny / maksymalny | 10 / 15 mA |
| |
Lampa: Agilent As/Cu/Fe | |
nr katalogowy lampy niekodowanej As/Cu/Fe: | Agilent 5610135300 | |
materiał okna lampy / gaz wypełniający: | kwarc / Ne |
prąd lampy nominalny / maksymalny | 10 / 15 mA |
| |
Lampa: Agilent Co/Cr/Cu/Fe/Mn/Ni | |
nr katalogowy lampy kodowanej Co/Cr/Cu/Fe/Mn/Ni: | Agilent 5610134500 | |
materiał okna lampy / gaz wypełniający: | kwarc / Ne |
prąd lampy nominalny / maksymalny | 10 / 12 mA |
| |
Lampa: Agilent Cu/Fe/Mn/Zn | |
nr katalogowy lampy kodowanej Cu/Fe/Mn/Zn: | Agilent 5610135000 | |
materiał okna lampy / gaz wypełniający: | kwarc / Ne |
prąd lampy nominalny / maksymalny | 10 / 12 mA |
| |
Lampa: Agilent Cu/Fe/Si/Zn | |
nr katalogowy lampy kodowanej Cu/Fe/Si/Zn: | Agilent 5610135100 | |
materiał okna lampy / gaz wypełniający: | kwarc / Ne |
prąd lampy nominalny / maksymalny | 10 / 12 mA |
| |
Lampa: Agilent Cu/Zn | |
nr katalogowy lampy kodowanej Cu/Zn: | Agilent 5610134600 | |
materiał okna lampy / gaz wypełniający: | kwarc / Ne |
prąd lampy nominalny / maksymalny | 4 / 10 mA |
| |
Cu - lampy katodowe HCL PHOTRON
Linie widmowe lamp katodowych Cu
Intensywności względne wybranych linii lampy HCL (100 odpowiada linii o największej intensywności)
Czułości względne wybranych linii (100 odpowiada linii o największej/najlepszej czułości = najmniejsze stęż. charakter.)
Linia Cu | Intensywność linii: | (100) |
324,8 nm | Czułość linii: | (100) |
|
Linia Cu | Intensywność linii: | (50) |
327,4 nm | Czułość linii: | (50) |
|
Linia Cu | Intensywność linii: | (3) |
217,9 nm | Czułość linii: | (12) |
|
Linia Cu | Intensywność linii: | (2) |
218,2 nm | Czułość linii: | (10) |
|
Linia Cu | Intensywność linii: | (5) |
222,6 nm | Czułość linii: | (2) |
|
Linia Cu | Intensywność linii: | (15) |
244,2 nm | Czułość linii: | (0) |
|
|
AAS/ASA - Technika płomieniowa - oznaczanie miedzi
|

Prąd lampy: |  4 mA |
Prąd lampy UltrAA: |  4 mA |
Rodzaj płomienia: |  acetylen-powietrze - utleniający |

|
Linia analityczna [nm] |
|
|
Szczelina spektralna [nm] |
|
|
Zakres roboczy [ppm] |
|
|
Stężenie charakterystyczne [ppm] |
|
|
Granica wykrywalności [ppm] |
|
324.7 |
0.5 |
0.03-10 |
0.027 |
0.0012 |
327.4 |
0.2 |
0.1-24 |
0.058 |
0.0024 |
217.9 |
0.2 |
0.2-60 |
0.16 |
|
218.2 |
0.2 |
0.3-80 |
1 |
|
222.6 |
0.2 |
1-280 |
4 |
|
UWAGI: Dla lampy wielopierwiastkowej (np. Co/Cr/Cu/Fe/Mn/Ni) zawierającej Mn możliwe interferencje spektralne na liniach 324.7 nm i 327.4 nm od sąsiadujacej słabej linii Mn (zmniejszenie liniowości krzywej k.).
Duże zawartości Zn w próbach powodują niewielkie zmniejszenie czułości dla Cu.
Dla lamp wielopierwiastkowych zawierających Ni i/lub Fe należy dla linii 324.7 nm stosować szczelinę 0,2 nm.
Noty aplikacyjne powiązane z oznaczaniem Cu techniką płomieniową AAS / Agilent
Tytuł
|
Pierwiastki Składniki
|
Matryca/img
|
Technika Przyrząd
|
link
|
rozmiar
|
The Determination of Cd, Cr, Cu, Ni and Pb in a Concentrated CaCl2/NaCl Solution by AAS Oznaczanie Cd, Cr, Cu, Ni i Pb w stężonych roztworach CaCl2/NaCl (11-2010)
|
Cd, Cr, Cu, Ni, Pb
|
CaCl2/NaCl
|
AAS płomień kuweta
|
|
76 k
|
|
AAS/ASA - Technika płomieniowa / emisja - oznaczanie miedzi
|
|   |
Linia emisyjna: |  327.4 nm |
Szczelina: |  0.2 nm |
Rodzaj płomienia: |  acetylen-podtlenek azotu |
|   |
|
AAS/ASA - Technika bezpłomieniowa (kuweta grafitowa) - oznaczanie miedzi
|

Linia analityczna / szczelina: |  324.8 / 0.5 nm |
Temperatura rozkładu termicznego: |  800 °C |
Temperatura atomizacji: |  2300 °C |
Masa charakterystyczna: |  6 pg |
Stężenie charakterystyczne (20µl): |  0.3 ppb |
Absorbancja maksymalna: |  1.6 (ok. 109.1 ppb) |
| |
Linie alternatywne: |  217.9 / 0.2 nm |
|  218.2 / 0.2 nm |
| |
UWAGI: | Typowo w kuwecie z korekcją Zeemana stosowana jest linia 327,4 nm, natomiast przy korekcji D2 linia 324,7 nm.
MSR dla linii 324,7 nm wynosi 64% (więc mimo wszystko pozostaje ona nieco czulsza w porównaniu z linią 327,4 nm, której MSR wynosi 84%). Natomiast liniowość dla linii 327,4 nm jest lepsza.
|
Zeeman
Linia analityczna / szczelina: |  327.4 / 0.5 nm |
Temperatura rozkładu termicznego: |  800 °C |
Temperatura atomizacji: |  2300 °C |
Natężenie pola: |  0.8 T |
Masa charakterystyczna: |  6 pg |
MSR: |  84 % |
|   |
Modyfikator matrycy: Pd + kw. askorbinowy - 1000 ppm azotan palladu + 1% kwas askorbinowy, w sumie 5µl
TYPOWY PROGRAM TEMPERATUROWY DLA KUWETY GRAFITOWEJ (D2 i Zeeman)
Krok | Temp. [°C] | Czas [s] | Przepływ gazu [l/min] | Odczyt |
1 | 85 | 5 | 3 | - |
2 | 95 | 40 | 3 | - |
3 | 120 | 10 | 3 | - |
4 | 800 | 5 | 3 | - |
5 | 800 | 1 | 3 | - |
6 | 800 | 2 | 0 | - |
7 | 2300 | 1.1 | 0 | tak |
8 | 2300 | 2 | 0 | tak |
9 | 2500 | 2 | 3 | - |
Noty aplikacyjne powiązane z oznaczaniem Cu techniką GF AAS / Agilent
Tytuł
|
Pierwiastki Składniki
|
Matryca/img
|
Technika Przyrząd
|
link
|
rozmiar
|
The Determination of Cd, Cr, Cu, Ni and Pb in a Concentrated CaCl2/NaCl Solution by AAS Oznaczanie Cd, Cr, Cu, Ni i Pb w stężonych roztworach CaCl2/NaCl (11-2010)
|
Cd, Cr, Cu, Ni, Pb
|
CaCl2/NaCl
|
AAS płomień kuweta
|
|
76 k
|
Direct Determination of Copper in Urine Samples by Electrothermal Atomic Absorption Spectrometry Using a Platform and Palladium Matrix Modifier Bezpośrednie oznaczanie miedzi (Cu) w próbkach moczu techniką GFAAS przy użyciu platformy i modyfikatora palladowego (11-2010)
|
Cu
|
mocz
|
AAS kuweta platforma
|
|
136 k
|
Sequential Determination of Cd, Cu, Pb, Co and Ni in Marine Invertebrates by Zeeman Graphite Furnace Atomic Absorption Spectroscopy Sekwencyjne oznaczanie kadmu (Cd), miedzi (Cu), ołowiu (Pb), kobaltu (Co) i niklu (Ni) w bezkręgowcach morskich techniką GFAAS/Zeeman (11-2010)
|
Cd, Cu, Pb, Co, Ni
|
bezkręgowce morskie
|
AAS kuweta (Zeeman)
|
|
369 k
|
|
ICP-OES - oznaczanie miedzi
|

Linie ICP dla miedzi (poszczególne linie linkują do wykresów linii sąsiadujących).
Wykres dla linii ICP znajdujących się w pobliżu linii miedzi 219.958 nm
(okno = ± 0.54 nm).
okno: ± 0,2 0,54 2 nm
Granica wykrywalności dla linii 324.754 nm: 0.15 ppb
Noty aplikacyjne powiązane z oznaczaniem Cu techniką ICP-OES / Agilent
Tytuł
|
Pierwiastki Składniki
|
Matryca/img
|
Technika Przyrząd
|
link
|
rozmiar
|
MILK POWDER ANALYSIS USING CHINESE GB 5413.21—2010 METHOD & AGILENT 5100 SVDV ICP-OES Analiza mleka w proszku wg metodyki GB 5413.21—2010 za pomocą AGILENT 5100 SVDV ICP-OES (10-2016)
|
Ca, Fe, Zn, Na, K, Mg, Mn, Cu
|
mleko w proszku
|
ICP 5100
SVDV
|
|
1290 k
|
Plant nutrient analysis using the Agilent 5100 Synchronous Vertical Dual View ICP OES Analiza zawartości metali w produktach roślinnych za pomocą Agilent 5100 Synchronous Vertical Dual View ICP OES (11-2015)
|
Al, B, Ba, Ca, Cu, Fe, K, Mg, Mn, S, Sr, P, Zn
|
materiał roślinny
|
ICP 5100
SVDV
|
|
545 k
|
Analysis of steel and its alloys using the GB/T 20125-2006 standard and an Agilent 5100 ICP-OES in dual view mode Analizy stali i stali stopowych wg metodyki GB/T 20125-2006 za pomocą Agilent 5100 ICP-OES w tybie dual view (11-2015)
|
Al, As, Co, Cr, Cu, Mn, Mo, Ni, P, S, Si, Ti, V
|
stal
|
ICP 5100
VDV
|
|
391 k
|
Ultra-fast determination of base metals in geochemical samples using the 5100 SVDV ICP-OES Bardzo szybkie oznaczanie metali w próbkach geologicznych za pomocą 5100 SVDV ICP-OES (7-2015)
|
Ag, Cd, Mo, Ti, Zr, Al, As, Ba, Ca, Co, Cr, Cu, Fe, K
|
próbki geologiczne
|
ICP 5100
SVDV
|
|
383 k
|
Multi-elemental determination of gasoline using Agilent 5100 ICP-OES with oxygen injection and a temperature controlled spray chamber
(9-2015)
|
Si, Ag, Al, B, Ba, Ca, Cd, Cr, Cu, Fe, Mg, Mn
|
benzyna
|
ICP 5100
SVDV
|
|
302 k
|
Analysis of ethanol fuel according to standard methods using the Agilent 5100 SVDV ICP-OES
(9-2015)
|
Cu, Fe, Na, S
|
paliwa na bazie etanolu
|
ICP 5100
SVDV
|
|
312 k
|
Improved productivity for the determination of metals in oil samples using the Agilent 5110 Radial View (RV) ICP-OES with Advanced Valve System Poprawa wydajności oznaczania metali w próbkach olejów techniką ICP-OES Agilent 5110 Radial View (RV) z sytemem zaworów AVS (5-2016)
|
Ag, Al, B, Ba, Ca, Cd, Cr, Cu, Fe, K, Mg, Mn, Mo, Na, Ni, P, Pb, Si, Sn, Ti, V, Zn
|
oleje silnikowe
|
ICP 5110
RV
AVS 6
|
|
468 k
|
Ultra-high speed analysis of soil extracts using an Advanced Valve System installed on an Agilent 5110 SVDV ICP-OES Bardzo szybkie analizy ekstraktów glebowych przy zastosowaniu AVS (Advanced Valve System) w technice ICP-OES Agilent 5110 SVDV (5-2016)
|
Cu, Fe, Mn, Zn, Co, Ni, Cd, Pb
|
ekstrakty glebowe
|
ICP 5110
SVDV
AVS 6
|
|
834 k
|
Determination of elemental nutrients in DTPA extracted soil using the Agilent 5110 SVDV ICP-OES Oznaczanie składników odżywczych w ekstraktach glebowych za pomocą DTPA przy zastosowaniu techniki ICP-OES Agilent 5110 SVDV (5-2016)
|
Cu, Fe, Mn, Zn, Co, Ni, Cd, Pb
|
ekstrakty glebowe / DPTA
|
ICP 5110
SVDV
AVS 6
|
|
450 k
|
High throughput, low cost analysis of environmental samples according to US EPA 6010C using the Agilent 5100 SVDV ICP-OES Wysokowydajne, o niskich kosztach, analizy próbek środowiskowych zgodnie z US EPA 6010C przy zastosowaniu Agilent 5100 ICP-OES SVDV (7-2015)
|
Ag, Al, As, B, Ba, Be, Cd, Cd, Ce, Co, Cr, Cu, Fe, Hg, K, Li, Mg, Mn, Mo, Na, Ni, P, Pb, Sb, Se, Sn, Sr, Ti, Tl, V, Zn
|
osady rzeczne
|
ICP 5100
SVDV
SVS 2+
|
|
386 k
|
Analysis of Bovine Liver using the Agilent 5100 Synchronous Vertical Dual View (SVDV) ICP-OES Analiza wątroby wołowej za pomocą Agilent 5100 Synchronous Vertical Dual View (SVDV ICP-OES) (7-2014)
|
K, Na, Fe, Cu, Zn, Mn, Se, Pb, Cd, As, Ca, Co, Mg, Mo, Ag, Tl
|
wątroba wołowa
|
ICP 5100
SVDV
|
|
904 k
|
Analysis of milk powders based on Chinese standard method using the Agilent 5100 SVDV ICP-OES Analiza mleka w proszku na podstawie chińskiej metody przy zastosowaniu Agilent 5100 SVDV ICP-OES (7-2014)
|
Ca, Fe, Zn, Na, K, Mg, Cu, Mn, P, S, Sr, Mo
|
mleko w proszku
|
ICP 5100
SVDV
|
|
290 k
|
Ultra-fast determination of trace elements in water, conforming to US EPA 200.7 using the Agilent 5100 Synchronous Vertical Dual View ICP-OES Bardzo szybkie oznaczanie śladowych składników w wodzie zgodnie z US EPA 200.7 przy zastosowaniu Agilent 5100 SVDV ICP-OES (7-2014)
|
Al, Sb, As, Ba, Be, B, Cd, Ca, Ce, Cr, Co, Cu, Fe, Pb, Li, Mg, Mn, Mo, Ni, P, K, Se, Si, Ag, Na, Sr, Tl, Sn, V, Zn
|
woda
|
ICP 5100
SVDV
SVS 2+
|
|
1252 k
|
Simultaneous determination of hydride and non-hydride elements in fish samples using the Agilent 5110 SVDV ICP-OES with MSIS accessory Jednoczesne oznaczanie pierwiastków wodorkowych i nie tworzących wodorków w próbkach ryb przy zastosowaniu spektrometeru Agilent 5110 SVDV ICP-OES z przystawką MSIS (3-2017)
|
Cd, Cr, Cu, Ni, Fe, Pb, Zn, As, Se, Hg, Sn
|
ryby
|
ICP 5110
SVDV
MSIS
|
|
662 k
|
Elemental Profiling of Whiskey using the Agilent 5100/5110 ICP-OES and MPP Chemometrics Software Profilowanie pierwiastkowe Whiskey przy zastosowaniu spektrometru Agilent 5100/5110 ICP-OES i oprogramowania MPP Chemometrics (2-2017)
|
Ag, Al, As, B, Ba, Be, Ca, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, K, Mg, Mn, Mo, Na, Ni, Pb, Rb, Se, Si, Sr, Ti, V, Zn
|
whiskey
|
ICP 5110
SVDV
MPP
|
|
827 k
|
Measuring elemental impurities in pharmaceutical materials Pomiar zanieczyszczeń pierwiastkowych w materiałach farmaceutycznych (5-2017)
|
Cd, Pb, As, Hg, Co, V, Ni, Tl, Au, Pd, Ir, Os, Rh, Ru, Se, Ag, Pt, Li, Sb, Ba, Mo, Cu, Sn, Cr
|
farmaceutyki
|
ICP 5110
|
|
1467 k
|
Simplify testing of elemental impurities in pharmaceuticals with Agilent’s certified reference materials kit ICH Q3D/USP <233> Elemental Impurities Kit Uproszczenie analiz zanieczyszczeń pierwiastkowych w farmaceutykach przy zastosowaniu zestawu certyfikowanych materiałów odniesienia ICH Q3D/USP <233> Elemental Impurities Kit (5-2017)
|
Hg, As, Cd, Pb, Ni, Ag, Se, V, Tl, Co, Au, Ir, Os, Pd, Pt, Rh, Ru, Cr, Sn, Cu, Mo, Ba, Sb, Li, Te, Sc, Ge, In, Lu, Bi
|
CRM (farmaceutyki)
|
ICP 5110
|
|
908 k
|
USP <232>/<233> and ICH Q3D Elemental Impurities Analysis: Agilent’s ICP-OES solution Analiza pierwiastkowa zanieczyszczeń wg USP <232>/<233> oraz ICH Q3D: Agilent ICP-OES (5-2017)
|
Cd, Pb, As, Hg, Co, V, Ni, Tl, Au, Pd, Ir, Os, Rh, Ru, Se, Ag, Pt, Li, Sb, Ba, Mo, Cu, Sn, Cr
|
farmaceutyki
|
ICP 5110
|
|
1285 k
|
 |
|
MP (plazma mikrofalowa) - oznaczanie miedzi
|

Długość fali: 324.754 nm
Granica wykrywalności (ciekły azot): 0.5 ppb
Granica wykrywalności (generator N2): 0.7 ppb
Noty aplikacyjne powiązane z oznaczaniem Cu techniką MP-AES / Agilent
Tytuł
|
Pierwiastki Składniki
|
Matryca/img
|
Technika Przyrząd
|
link
|
rozmiar
|
Determination of major and minor elements in geological samples using the 4200 Microwave Plasma-Atomic Emission Spectrometer (MP-AES) Oznaczanie pierwiastków w próbkach geologicznych za pomocą spektrometru 4200 MP-AES (1-2014)
|
Ag, Cu, Ni, Pb, Zn
|
próbki geologiczne
|
MP 4200
|
|
1720 k
|
Determination of major, minor and trace elements in rice flour using the 4200 Microwave Plasma-Atomic Emission Spectrometer (MP-AES) Oznaczanie pierwiastków w mące ryżowej za pomocą spektrometru 4200 MP-AES (12-2013)
|
P, Cd, Mg, Zn, Mn, K, Cu, Fe, Ca
|
mąka ryżowa
|
MP 4200
|
|
646 k
|
Cognac analysis using the Agilent 4200 Microwave Plasma-Atomic Emission Spectrometer (MP-AES) Analizy koniaku za pomocą spektrometru 4200 MP-AES (9-2014)
|
Al, Ca, Cd, Cu, Fe, K, Na, Pb, Zn
|
koniaki
|
MP 4200
|
|
513 k
|
Cost-Effective Analysis of Major, Minor, and Trace Elements in Foodstuffs Using the 4100 MP-AES
(6-2013)
|
Al, Ba, Ca, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, K, Pb, Mg, Mn, Mo, Na, Ni, Sr, Zn, P
|
żywność
|
MP 4100
|
|
1362 k
|
Determination of available micronutrients in DTPA extracted soils using the Agilent 4210 MP-AES Oznaczanie składników odżywczych w ekstraktach glebowych za pomocą DTPA przy zastosowaniu techniki MP-AES - Agilent 4210 (9-2016)
|
Cu, Fe, Mn, Zn
|
ekstrakty glebowe / DPTA
|
MP 4210
|
|
475 k
|
Determination of metals in soils using the 4100 MP-AES Oznaczanie metali w glebach przy zastosowaniu techniki MP-AES - Agilent 4100 (9-2016)
|
Al, As, Cr, Cu, Pb, Ni, Zn, Fe, Mn
|
gleby
|
MP 4100
|
|
235 k
|
Determination of metals in industrial wastewaters by microwave plasmaatomic emission spectrometry Oznaczanie metali w ściekach przemysłowych przy zastosowaniu techniki atomowej emisyjnej plazmy mikrofalowej (9-2016)
|
Al, B, Co, Cu, Fe, Mg, Mn, Ni, Zn
|
ścieki przemysłowe
|
MP 4100
|
|
293 k
|
Total metals analysis of digested plant tissue using an Agilent 4200 Microwave Plasma-AES Oznaczanie metali w materiale roślinnym przy zastosowaniu techniki MP-AES - Agilent 4200 (9-2016)
|
Cu, Fe, Mn, Zn, Na, K, Ca, Mg, B, P
|
rośliny
|
MP 4200
|
|
145 k
|
Direct analysis of milk using the Agilent 4100 Microwave Plasma-Atomic Emission Spectrometer (MP-AES) Bezpośrednia analiza mleka przy zastosowaniu techniki MP-AES - Agilent 4100 (4-2013)
|
Al, Cr, Cu, Fe, Mg, Mn, Zn
|
mleko
|
MP 4100
|
|
460 k
|
Analysis of Chinese herbal medicines by microwave plasma-atomic emission spectrometry (MP-AES) Analiza chińskich ziół leczniczych przy zastosowaniu techniki atomowej emisyjnej plazmy mikrofalowej (MP-AES) (3-2012)
|
Al, Ba, Ca, Cr, Cu, Fe, K, Mg, Mn, Na, Ni, P, Pb, Zn
|
zioła lecznicze
|
MP 4100
|
|
168 k
|
Direct determination of Cu, Fe, Mn, P, Pb and Ti in HF acid-digested soils using the Agilent 4200 Microwave Plasma-Atomic Emission Spectrometer Bezpośrednie oznaczanie Cu, Fe, Mn, P, Pb i Ti w glebach rozpuszczonych w HF przy zastosowaniu techniki MP-AES - Agilent 4200 (7-2017)
|
Cu, Fe, Mn, P, Pb, Ti
|
gleby
|
MP 4200
|
|
298 k
|
Determination of major and minor elements in geological samples using the 4100 MP-AES Oznaczanie głównych i śladowych pierwiastków w próbkach geologicznych za pomocą spektrometru 4100 MP-AES (8-2011)
|
Ag, Cu, Mo, Ni, Pb, Zn
|
próbki geologiczne, metalurgia
|
MP 4100
|
|
129 k
|
Elemental analysis of river sediment using the Agilent 4200 MP-AES Oznaczanie metali w osadach rzecznych przy zastosowaniu techniki MP-AES - Agilent 4200 (9-2015)
|
Ca, K, Mg, Na, Al, Fe, Zn, Cu, Mn
|
osady rzeczne
|
MP 4200
|
|
379 k
|
Analysis of domestic sludge using the Agilent 4200 MP-AES Analiza ścieków komunalnych przy zastosowaniu techniki MP-AES - Agilent 4200 (9-2015)
|
Zn, Mn, Cr, Ca, Fe, Cu, Mg
|
ścieki komunalne
|
MP 4200
|
|
524 k
|
Analysis of wear metals and contaminants in engine oils using the 4100 MP-AES Oznaczanie metali i dodatków w olejach silnikowych przy zastosowaniu techniki MP-AES - Agilent 4100 (9-2011)
|
Fe, Mn, Cd, Cr, Si, Ni, Cu, Ag, Pb, V, Ti, Sn, Mo, Al, Na
|
oleje silnikowe
|
MP 4100
|
|
140 k
|
Determination of macro and micronutrients in plants using the Agilent 4200 MP AES Oznaczane makro i mikro składników w roślinach przy zastosowaniu spektrometru MP-AES - Agilent 4200 (3-2017)
|
N, P, K, Ca, Mg, S, B, Cl, Co, Cu, Fe, Mn, Mo, Si, Zn
|
rośliny
|
MP 4200
|
|
767 k
|
High Throughput Multi-Elemental Profiling of Plant Samples with the 4200 MP-AES Oznaczanie z dużą wydajnością wielopierwiastkowych profili próbek roślinnych przy zastosowaniu spektrometru 4200 MP-AES (3-2017)
|
Cu, Fe, Mn, Zn, Na, K, Ca, Mg, Ba, P, Al, Cd, Sr, Cr
|
rośliny
|
MP 4210
|
|
1346 k
|
 |
|