Standardowo cer nie jest oznaczany techniką AAS.
Linia emisyjna 569.9 nm. Emisja w płomieniu acetylen-podtlenek azotu.
Wzorce można przygotować z soli amonowej (NH₄)₂Ce(NO₃)₆.
Korekcja deuterowa dla linii Ce nie działa i powinna być wyłączona.
 

 

ICP-OES - oznaczanie ceru

Linie ICP dla ceru (poszczególne linie linkują do wykresów linii sąsiadujących).

λ 413.38

nm

SBR:

2

λ 428.994

nm

SBR:

1.2

λ 429.667

nm

SBR:

0.9

λ 380.152

nm

SBR:

0.8

λ 413.765

nm

SBR:

2

λ 456.236

nm

SBR:

1

λ 404.076

nm

SBR:

0.9

λ 418.66

nm

SBR:

1.8

λ 462.816

nm

SBR:

0.9

λ 357.745

nm

SBR:

0.8

λ 446.021

nm

SBR:

1.8

λ 439.166

nm

SBR:

0.9

λ 370.993

nm

SBR:

0.8

Wykres dla linii ICP znajdujących się w pobliżu linii ceru 404.076 nm (okno = ± 0.54 nm).
okno: ± 0,2    0,54   2    nm

Granica wykrywalności dla linii 413.38 nm: 0.5 ppb

Noty aplikacyjne powiązane z oznaczaniem Ce techniką ICP-OES / Agilent

Tytuł	Pierwiastki Składniki	Matryca/img	Technika Przyrząd	link	rozmiar
High throughput, low cost analysis of environmental samples according to US EPA 6010C using the Agilent 5100 SVDV ICP-OES Wysokowydajne, o niskich kosztach, analizy próbek środowiskowych zgodnie z US EPA 6010C przy zastosowaniu Agilent 5100 ICP-OES SVDV (7-2015)	Ag, Al, As, B, Ba, Be, Cd, Cd, Ce, Co, Cr, Cu, Fe, Hg, K, Li, Mg, Mn, Mo, Na, Ni, P, Pb, Sb, Se, Sn, Sr, Ti, Tl, V, Zn	osady rzeczne	ICP 5100 SVDV SVS 2+		386 k
Ultra-fast determination of trace elements in water, conforming to US EPA 200.7 using the Agilent 5100 Synchronous Vertical Dual View ICP-OES Bardzo szybkie oznaczanie śladowych składników w wodzie zgodnie z US EPA 200.7 przy zastosowaniu Agilent 5100 SVDV ICP-OES (7-2014)	Al, Sb, As, Ba, Be, B, Cd, Ca, Ce, Cr, Co, Cu, Fe, Pb, Li, Mg, Mn, Mo, Ni, P, K, Se, Si, Ag, Na, Sr, Tl, Sn, V, Zn	woda	ICP 5100 SVDV SVS 2+		1252 k