O FIRMIE LABORATORIA APLIKACYJNE INSTALACJA BIURO SERWISOWE KONTAKT SŁOWNIK WYDARZENIA SYMPOZJA Zakopane 2017 Wyprzedaż

    

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

KONTAKT

Adres do korespondencji:

 

MS SPEKTRUM

04-002 Warszawa

ul. Lubomira 4

 

Telefon: (+48) 22 810 01 28

Faks: (+48) 22 810 01 28

E-mail: biuro@msspektrum.pl

 

 

 

 

APLIKACJE - metodyki oznaczeń na przyrządach AAS / ICP / MP

poprzednia wersja: aplikacje

aby uzyskać szczegółowe informacje kliknij na symbol wybranego pierwiastka

  

  wybrano:
Pb - Ołów

Roztwory
wzorcowe
AAS
lampy HCL
AAS
płomień
AAS
kuweta grafit.
ICP-OES MP-AES

Klikając w kwadracikach zaznacz interesujące Cię parametry pierwiastków i naciśnij OK

     

Liczba Atomowa

AAS linia 1 [nm]

     

Nazwa

AAS linia 2 [nm]

     

Masa Atomowa

AAS oznaczanie 

 = C2H2-powietrze     

 = C2H2-N2O     

 = wodorki     

ICP linia [nm]

AAS płomień zakr. roboczy [ppm] (linia 1)

     

ICP gr. wyk. [ppb]

     
         

Oznaczanie ołowiu - Pb

Liczba atomowa: 82
Masa atomowa: 207.2
Temperatura topnienia: 327 °C
Temperatura wrzenia: 1749 °C  

Wzorce, odczynniki, roztwory pomocnicze do oznaczania ołowiu - Pb

Roztwory wzorcowe do spektrometrów AAS/ASA i MP Agilent

Wzorzec
ołowiu (Pb)
do technik

Stężenie
ppm

Objętość
ml

Matryca
ml

nr katalogowy
Agilent

AAS MP

1000

100

5% HNO3    

5190-8287

AAS MP

1000

500

5% HNO3    

5190-8288

MP ICP

1000

100

5% HNO3    

5190-8475

MP ICP

1000

500

5% HNO3    

5190-8476

MP ICP

10000

100

5% HNO3    

5190-8406

MP ICP

10000

500

5% HNO3    

5190-8407

AAS

1000

50g

wzorzec olejowy    

5190-8758

AAS

5000

50g

wzorzec olejowy    

5190-8759

    wzorce do technik AAS i MP zestawienie wzorców do technik AAS i MP firmy Agilent

    wzorce Pb do techniki AAS wzorce Pb do techniki AAS firmy SPEX  

AAS/ASA - Lampy z katodą wnękową HCL - ołów

Lampy katodowe HCL do spektrometrów AAS/ASA Agilent

LAMPY STANDARDOWE

   

   Lampa: Agilent Pb

   

     nr katalogowy lampy kodowanej Pb:

  Agilent 5610102900

   

     nr katalogowy lampy niekodowanej Pb:

  Agilent 5610124800

   

     materiał okna lampy / gaz wypełniający:

  kwarc / Ne 

     prąd lampy nominalny / maksymalny

  10 / 12 mA  

   

   

LAMPY UltrAA

   

   Lampa: Agilent Pb

   

     nr katalogowy lampy kodowanej Pb:

  Agilent 5610108200

   

     materiał okna lampy / gaz wypełniający:

  kwarc / Ne 

     prąd lampy nominalny / maksymalny

  10 / 12 mA  

   

   

LAMPY wielopierwiastkowe

   

   Lampa: Agilent Ag/Cd/Pb/Zn

   

     nr katalogowy lampy kodowanej Ag/Cd/Pb/Zn:

  Agilent 5610108700

   

     materiał okna lampy / gaz wypełniający:

  kwarc / Ne 

     prąd lampy nominalny / maksymalny

  5 / 10 mA  

   

   Lampa: Agilent Co/Mo/Pb/Zn

   

     nr katalogowy lampy kodowanej Co/Mo/Pb/Zn:

  Agilent 5610109800

   

     materiał okna lampy / gaz wypełniający:

  kwarc / Ne 

     prąd lampy nominalny / maksymalny

  10 / 12 mA  

   

   

LAMPY wielopierwiastkowe UltrAA

   

   Lampa: Agilent Ag/Cd/Pb/Zn

   

     nr katalogowy lampy kodowanej Ag/Cd/Pb/Zn:

  Agilent 5610108900

   

     materiał okna lampy / gaz wypełniający:

  kwarc / Ne 

     prąd lampy nominalny / maksymalny

  5 / 10 mA  

   

   Lampa: Agilent Co/Mo/Pb/Zn

   

     nr katalogowy lampy kodowanej Co/Mo/Pb/Zn:

  Agilent 5610135200

   

     materiał okna lampy / gaz wypełniający:

  kwarc / Ne 

     prąd lampy nominalny / maksymalny

  10 / 12 mA  

   

Pb - lampy katodowe firmy PHOTRON  Pb - lampy katodowe HCL PHOTRON

Linie widmowe lamp katodowych Pb
Linie widmowe Pb

Intensywności względne wybranych linii lampy HCL (100 odpowiada linii o największej intensywności)
Czułości względne wybranych linii (100 odpowiada linii o największej/najlepszej czułości = najmniejsze stęż. charakter.)

Linia Pb

  Intensywność linii:

  20(20) 

217,0 nm

  Czułość linii:

  100(100) 


Linia Pb

  Intensywność linii:

  100(100) 

283,3 nm

  Czułość linii:

  50(50) 


Linia Pb

  Intensywność linii:

  30(30) 

261,4 nm

  Czułość linii:

  2(2) 



 

AAS/ASA - Technika płomieniowa - oznaczanie ołowiu

AAS/ASA - technika płomieniowa

 Prąd lampy: 

    10 mA

 Prąd lampy UltrAA: 

    10 mA

 Rodzaj płomienia: 

    acetylen-powietrze - utleniający

 

 

    

Linia
analityczna
[nm]

    

    

Szczelina
spektralna
[nm]

    

    

Zakres
roboczy
[ppm]

    

    

Stężenie
charakterystyczne
[ppm]

    

    

Granica
wykrywalności
[ppm]

    

217

1

0.1-30

0.1

0.014

283.3

0.5

0.5-50

0.2

0.015

261.4

0.5

5-800

2.4

202.2

0.5

7-1000

205.3

0.5

50-8000

 Stężenie wzorca:  ppm (µg/ml)        Linia:   nm   

UWAGI:

Pomimo 2x gorszej czułości w wiekszości aplikacji zalecana jest linia 283.3 nm (zamiast 217.0 nm).
Interferencje kationowe na ogół nie występują, natomiast powszechne są interferencje anionowe, szczególnie od fosforanów, węglanów, jodków, fluorków i octanów.
Interferencje w dużym stopniu eliminuje dodatek EDTA na poziomie 0,1M.
Dla linii 217.0 nm występują często silne pasma absorpcji niespecyficznej. Przy roztworach o dużych stężeniach matrycy korekcja tła jest koniecznością.
Czułość w płomieniu acetylen-podtlenek azotu jest ok. 7x gorsza (dla linii 283.3 nm).
Duży nadmiar Fe (1%) interferuje z sygnałem Pb.
Dla lampy wielopierwiastkowej (np. Ag/Cd/Pb/Zn) zawierającej Ag możliwe interferencje spektralne na linii 217.0 nm od sąsiadujacej słabej linii Ag (zmniejszenie liniowości krzywej k.).
Dla lampy wielopierwiastkowej zawierającej Cu możliwe interferencje spektralne na linii 217.0 nm od sąsiadującej linii Cu 216.5 nm.
 

Noty aplikacyjne powiązane z oznaczaniem Pb techniką płomieniową AAS / Agilent

Tytuł

Pierwiastki
Składniki

Matryca

Technika
Przyrząd

link

rozmiar

The Determination of Cd, Cr, Cu, Ni and Pb in a Concentrated CaCl2/NaCl Solution by AAS

Oznaczanie Cd, Cr, Cu, Ni i Pb w stężonych roztworach CaCl2/NaCl
(11-2010)

Cd, Cr, Cu, Ni, Pb 

CaCl2/NaCl

AAS
płomień
kuweta


76 k

AAS/ASA - Technika płomieniowa / emisja - oznaczanie ołowiu

 

    

 Linia emisyjna:

    405.8 nm

 Szczelina:

    0.2 nm

 Rodzaj płomienia:

    acetylen-podtlenek azotu

 

    

 

AAS/ASA - Technika bezpłomieniowa (kuweta grafitowa) - oznaczanie ołowiu

technika bezpłomieniowa - kuweta grafitowa
 

 Linia analityczna / szczelina: 

    283.3 / 0.5 nm

 Temperatura rozkładu termicznego: 

    400 °C

 Temperatura atomizacji: 

    2100 °C

 Masa charakterystyczna: 

    5.5 pg

 Stężenie charakterystyczne (20µl): 

    0.275 ppb

 Absorbancja maksymalna: 

    1.4 (ok. 87.5 ppb)

 

 

 Linie alternatywne: 

    217 / 1 nm

 

    261.4 / 0.5 nm

 

 

 UWAGI:

Ze względu na powszechne występowanie halogenków (chlorków) w rzeczywistych próbkach, stosowanie modyfikatora NH4H2PO4 jest zalecane/konieczne. Typowa ilość modyfikatora, to 5 µl/5000 ppm (1000 - 10 0000 ppm). Na ogół preferowana jest linia 283.3 nm. Linię 217.0 nm można stosować przy korzystaniu z lampy UltrAA: MSR dla linii 217.0 wynosi 71%, a absorpcja niespecyficzna może przyjmować wysokie poziomy.

Podczas oznaczania Pb w matrycach zawierających NaCl (ok. 1%) pik tła pojawia się w temperaturze 1080°C, a jego szerokość połówkowa obejmuje temperatury w zakresie 880°C - 1150°C.

 

 Stężenie wzorca:  ppb (ng/ml)        Objętość:   µl   


Zeeman

 Linia analityczna / szczelina: 

    283.3 / 0.5 nm

 Temperatura rozkładu termicznego: 

    400 °C (modyf. fosforan amonu)

 Temperatura atomizacji: 

    2100 °C

 Natężenie pola: 

    0.8 T

 Masa charakterystyczna: 

    5.5 pg

 MSR: 

    81 %

 

    


 Modyfikator matrycy: NH4H2PO4 - 1% dwuwodorofosforan amonowy, 5µl

 alternatywnie:

   Modyfikator matrycy (2): H3PO4 - kwas fosoforowy, 1000 ppm / 5µl
 
   Modyfikator matrycy (3): Pd -
 
   Modyfikator matrycy (4): EDTA, cytryniany, szczawiany -
 


TYPOWY PROGRAM TEMPERATUROWY DLA KUWETY GRAFITOWEJ (D2 i Zeeman)

Krok

Temp.
[°C]

Czas
[s]

Przepływ
gazu [l/min]

Odczyt

1

85

5

3

-

2

95

40

3

-

3

120

10

3

-

4

400

5

3

-

5

400

1

3

-

6

400

2

0

-

7

2100

1

0

tak

8

2100

2

0

tak

9

2500

2

3

-


 

Noty aplikacyjne powiązane z oznaczaniem Pb techniką GF AAS / Agilent

Tytuł

Pierwiastki
Składniki

Matryca

Technika
Przyrząd

link

rozmiar

The Determination of Cd, Cr, Cu, Ni and Pb in a Concentrated CaCl2/NaCl Solution by AAS

Oznaczanie Cd, Cr, Cu, Ni i Pb w stężonych roztworach CaCl2/NaCl
(11-2010)

Cd, Cr, Cu, Ni, Pb 

CaCl2/NaCl

AAS
płomień
kuweta


76 k

Monitoring Heavy Metals by Atomic Absorption Spectroscopy for Compliance with RoHS and WEEE Directives

Oznaczanie Pb, Cr, Cd, Hg techniką AAS wg RoHS / WEEE
(1-2012)

Pb, Cr, Cd, Hg 

materiały elektroniczne

AAS
kuweta (Zeeman)
zimne pary


84 k

Sequential Determination of Cd, Cu, Pb, Co and Ni in Marine Invertebrates by Zeeman Graphite Furnace Atomic Absorption Spectroscopy

Sekwencyjne oznaczanie kadmu (Cd), miedzi (Cu), ołowiu (Pb), kobaltu (Co) i niklu (Ni) w bezkręgowcach morskich techniką GFAAS/Zeeman
(11-2010)

Cd, Cu, Pb, Co, Ni 

bezkręgowce morskie

AAS
kuweta (Zeeman)


369 k

The Determination of Trace Elements in Stainless Steel by Forked Platform GFAAS

Oznaczanie pierwiastków śladowych w stali kwasoodpornej na platformie techniką GFAAS
(11-2010)

As, Se, Pb, Cd, Sb, Bi, Ag 

stal

AAS
kuweta (Zeeman)


108 k

Evaluation of a New Forked Platform Design for Graphite Furnace AAS

Ocena nowej konstrukcji platformy w technice GFAAS
(11-2010)

As, Se, Cd, Pb, Sn 

woda

AAS
kuweta
(D2 i Zeeman)


117 k

The Determination of Toxic Metals in Waters and Wastes by Furnace Atomic Absorption

Oznaczanie metali toksycznych w wodach i ściekach techniką GFAAS
(11-2010)

As, Ba, Cd, Cr, Pb, Se, Ag 

woda
ścieki

AAS
kuweta


228 k

Determination of Trace Metals in High-Purity Copper Using the GTA-95 Graphite Tube Atomizer

Oznaczanie metali śladowych w miedzi wysokiej czystości techniką GFAAS
(11-2010)

As, Sn, Pb, Sb, Bi, Se, Te 

Cu

AAS
kuweta


79 k

 

ICP-OES - oznaczanie ołowiu

Linie ICP dla ołowiu (poszczególne linie linkują do wykresów linii sąsiadujących).

λ 220.353

nm

SBR:

1.2

λ 182.203

nm

SBR:

0.65

λ 168.215

nm

SBR:

0.23

λ 179.668

nm

SBR:

0.15

λ 216.999

nm

SBR:

0.9

λ 283.306

nm

SBR:

0.45

λ 368.348

nm

SBR:

0.2

λ 261.418

nm

SBR:

0.7

λ 280.199

nm

SBR:

0.35

λ 405.783

nm

SBR:

0.18


Granica wykrywalności dla linii 220.353 nm: 1.3 ppb

Noty aplikacyjne powiązane z oznaczaniem Pb techniką ICP-OES / Agilent

Tytuł

Pierwiastki
Składniki

Matryca

Technika
Przyrząd

link

rozmiar

Improved productivity for the determination of metals in oil samples using the Agilent 5110 Radial View (RV) ICP-OES with Advanced Valve System

Poprawa wydajności oznaczania metali w próbkach olejów techniką ICP-OES Agilent 5110 Radial View (RV) z sytemem zaworów AVS
(5-2016)

Ag, Al, B, Ba, Ca, Cd, Cr, Cu, Fe, K, Mg, Mn, Mo, Na, Ni, P, Pb, Si, Sn, Ti, V, Zn 

oleje silnikowe

ICP
5110
RV
AVS 6

468 k

Ultra-high speed analysis of soil extracts using an Advanced Valve System installed on an Agilent 5110 SVDV ICP-OES

Bardzo szybkie analizy ekstraktów glebowych przy zastosowaniu AVS (Advanced Valve System) w technice ICP-OES Agilent 5110 SVDV
(5-2016)

Cu, Fe, Mn, Zn, Co, Ni, Cd, Pb 

ekstrakty glebowe

ICP
5110
SVDV
AVS 6

834 k

Determination of elemental nutrients in DTPA extracted soil using the Agilent 5110 SVDV ICP-OES

Oznaczanie składników odżywczych w ekstraktach glebowych za pomocą DTPA przy zastosowaniu techniki ICP-OES Agilent 5110 SVDV
(5-2016)

Cu, Fe, Mn, Zn, Co, Ni, Cd, Pb 

ekstrakty glebowe / DPTA

ICP
5110
SVDV
AVS 6

450 k

Analysis of extractable and leachable metals in plastic materials of construction as per USP <661.1> acid extraction procedure using the Agilent 5110 VDV ICP-OES


(7-2016)

As, Cr, Cd, Pb, Al, Co, Hg, Ni, Ti, V, Zn, Zr, Ba, Ca, Mn, Sn 

opakowania z tworzyw sztucznych

ICP
5110
VDV
MSIS

1297 k

High throughput, low cost analysis of environmental samples according to US EPA 6010C using the Agilent 5100 SVDV ICP-OES

Wysokowydajne, o niskich kosztach, analizy próbek środowiskowych zgodnie z US EPA 6010C przy zastosowaniu Agilent 5100 ICP-OES SVDV
(7-2015)

Ag, Al, As, B, Ba, Be, Cd, Cd, Ce, Co, Cr, Cu, Fe, Hg, K, Li, Mg, Mn, Mo, Na, Ni, P, Pb, Sb, Se, Sn, Sr, Ti, Tl, V, Zn 

osady rzeczne

ICP
5100
SVDV
SVS 2+

386 k

Analysis of Bovine Liver using the Agilent 5100 Synchronous Vertical Dual View (SVDV) ICP-OES

Analiza wątroby wołowej za pomocą Agilent 5100 Synchronous Vertical Dual View (SVDV ICP-OES)
(7-2014)

K, Na, Fe, Cu, Zn, Mn, Se, Pb, Cd, As, Ca, Co, Mg, Mo, Ag, Tl 

wątroba wołowa

ICP
5100
SVDV

904 k

Ultra-fast determination of trace elements in water, conforming to US EPA 200.7 using the Agilent 5100 Synchronous Vertical Dual View ICP-OES

Bardzo szybkie oznaczanie śladowych składników w wodzie zgodnie z US EPA 200.7 przy zastosowaniu Agilent 5100 SVDV ICP-OES
(7-2014)

Al, Sb, As, Ba, Be, B, Cd, Ca, Ce, Cr, Co, Cu, Fe, Pb, Li, Mg, Mn, Mo, Ni, P, K, Se, Si, Ag, Na, Sr, Tl, Sn, V, Zn 

woda

ICP
5100
SVDV
SVS 2+

1252 k

Simultaneous determination of hydride and non-hydride elements in fish samples using the Agilent 5110 SVDV ICP-OES with MSIS accessory

Jednoczesne oznaczanie pierwiastków wodorkowych i nie tworzących wodorków w próbkach ryb przy zastosowaniu spektrometeru Agilent 5110 SVDV ICP-OES z przystawką MSIS
(3-2017)

Cd, Cr, Cu, Ni, Fe, Pb, Zn, As, Se, Hg, Sn 

ryby

ICP
5110
SVDV
MSIS

662 k

Elemental Profiling of Whiskey using the Agilent 5100/5110 ICP-OES and MPP Chemometrics Software

Profilowanie pierwiastkowe Whiskey przy zastosowaniu spektrometru Agilent 5100/5110 ICP-OES i oprogramowania MPP Chemometrics
(2-2017)

Ag, Al, As, B, Ba, Be, Ca, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, K, Mg, Mn, Mo, Na, Ni, Pb, Rb, Se, Si, Sr, Ti, V, Zn 

whiskey

ICP
5110
SVDV
MPP

827 k

Measuring elemental impurities in pharmaceutical materials

Pomiar zanieczyszczeń pierwiastkowych w materiałach farmaceutycznych
(5-2017)

Cd, Pb, As, Hg, Co, V, Ni, Tl, Au, Pd, Ir, Os, Rh, Ru, Se, Ag, Pt, Li, Sb, Ba, Mo, Cu, Sn, Cr 

farmaceutyki

ICP
5110


1467 k

Simplify testing of elemental impurities in pharmaceuticals with Agilent’s certified reference materials kit
ICH Q3D/USP <233> Elemental Impurities Kit

Uproszczenie analiz zanieczyszczeń pierwiastkowych w farmaceutykach przy zastosowaniu zestawu certyfikowanych materiałów odniesienia
ICH Q3D/USP <233> Elemental Impurities Kit
(5-2017)

Hg, As, Cd, Pb, Ni, Ag, Se, V, Tl, Co, Au, Ir, Os, Pd, Pt, Rh, Ru, Cr, Sn, Cu, Mo, Ba, Sb, Li, Te, Sc, Ge, In, Lu, Bi 

CRM
(farmaceutyki)

ICP
5110


908 k

USP <232>/<233> and ICH Q3D Elemental Impurities Analysis: Agilent’s ICP-OES solution

Analiza pierwiastkowa zanieczyszczeń wg USP <232>/<233> oraz ICH Q3D: Agilent ICP-OES
(5-2017)

Cd, Pb, As, Hg, Co, V, Ni, Tl, Au, Pd, Ir, Os, Rh, Ru, Se, Ag, Pt, Li, Sb, Ba, Mo, Cu, Sn, Cr 

farmaceutyki

ICP
5110


1285 k

 

MP (plazma mikrofalowa) - oznaczanie ołowiu

Długość fali: 405.781 nm

Granica wykrywalności (ciekły azot): 2.5 ppb

Granica wykrywalności (generator N2): 3.3 ppb

Noty aplikacyjne powiązane z oznaczaniem Pb techniką MP-AES / Agilent

Tytuł

Pierwiastki
Składniki

Matryca

Technika
Przyrząd

link

rozmiar

Determination of major and minor elements in geological samples using the 4200 Microwave Plasma-Atomic Emission Spectrometer (MP-AES)

Oznaczanie pierwiastków w próbkach geologicznych za pomocą spektrometru 4200 MP-AES
(1-2014)

Ag, Cu, Ni, Pb, Zn 

próbki geologiczne

MP
4200


1720 k

Cognac analysis using the Agilent 4200 Microwave Plasma-Atomic Emission Spectrometer (MP-AES)

Analizy koniaku za pomocą spektrometru 4200 MP-AES
(9-2014)

Al, Ca, Cd, Cu, Fe, K, Na, Pb, Zn 

koniaki

MP
4200


513 k

Cost-Effective Analysis of Major, Minor, and Trace Elements in Foodstuffs Using the 4100 MP-AES


(6-2013)

Al, Ba, Ca, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, K, Pb, Mg, Mn, Mo, Na, Ni, Sr, Zn, P 

żywność

MP
4100


1362 k

Determination of metals in soils using the 4100 MP-AES

Oznaczanie metali w glebach przy zastosowaniu techniki MP-AES - Agilent 4100
(9-2016)

Al, As, Cr, Cu, Pb, Ni, Zn, Fe, Mn 

gleby

MP
4100


235 k

Analysis of Chinese herbal medicines by microwave plasma-atomic emission spectrometry (MP-AES)

Analiza chińskich ziół leczniczych przy zastosowaniu techniki atomowej emisyjnej plazmy mikrofalowej (MP-AES)
(3-2012)

Al, Ba, Ca, Cr, Cu, Fe, K, Mg, Mn, Na, Ni, P, Pb, Zn 

zioła lecznicze

MP
4100


168 k

Direct determination of Cu, Fe, Mn, P, Pb and Ti in HF acid-digested soils using the Agilent 4200 Microwave Plasma-Atomic Emission Spectrometer

Bezpośrednie oznaczanie Cu, Fe, Mn, P, Pb i Ti w glebach rozpuszczonych w HF przy zastosowaniu techniki MP-AES - Agilent 4200
(7-2017)

Cu, Fe, Mn, P, Pb, Ti 

gleby

MP
4200


298 k

Determination of major and minor elements in geological samples using the 4100 MP-AES

Oznaczanie głównych i śladowych pierwiastków w próbkach geologicznych za pomocą spektrometru 4100 MP-AES
(8-2011)

Ag, Cu, Mo, Ni, Pb, Zn 

próbki geologiczne,
metalurgia

MP
4100


129 k

Analysis of wear metals and contaminants in engine oils using the 4100 MP-AES

Oznaczanie metali i dodatków w olejach silnikowych przy zastosowaniu techniki MP-AES - Agilent 4100
(9-2011)

Fe, Mn, Cd, Cr, Si, Ni, Cu, Ag, Pb, V, Ti, Sn, Mo, Al, Na 

oleje silnikowe

MP
4100


140 k

Direct analysis of Cr, Ni, Pb and V in ethanol fuel by Microwave Plasma-Atomic Emission Spectrometry

Bezpośrednie oznaczanie Cr, Ni, Pb i V w paliwach etanolowych przy zastosowaniu techniki atomowej emisyjnej plazmy mikrofalowej (MP-AES)
(9-2012)

Cr, Ni, Pb, V 

paliwa na bazie etanolu

MP
4100


83 k

 
 
O firmie
Laboratoria aplikacyjne
Aplikacje
Instalacja
Biuro serwisowe
Kontakt
Słownik
Wydarzenia
Sympozja
zakopane 2017
wyprzedaż
Nota prawna
Polityka prywatności
Kontakt